パスディレイテストを用いた部分パス遅延値推定手法(低電力設計と回路設計技術,システムオンシリコンを支える設計技術)
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概要
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本稿はパスディレイテストの結果を利用して,部分パスの遅延値を推定する手法を提案する.近年,タイミング故障が問題となっている.このタイミング故障の検出方法としてパスディレイテストが知られている.パスディレイテストは製造後のLSIにおいて信号が伝達されるかどうかを検査する.本稿では,パスディレイテストを用いて遅延解析を行う手法を提案する.提案手法の構成は1)複数のパスディレイテストによる検査,2)部分パスの遅延値推定,3)残りのパスへ推定結果を拡張,である.実験結果により0.05%程度の誤差で遅延値を推定できることを示す.
- 2010-03-03
著者
-
高島 康裕
北九州市立大学国際環境工学部情報メディア工学科
-
中村 祐一
NECシステムIPコア研究所
-
高島 康裕
北九州市立大学 国際環境工学部
-
志岐 卓信
北九州市立大学国際環境工学部
-
中村 祐一
Nec システムipコア研
-
高島 康裕
北九州市立大学国際環境工学研究科
-
高島 康裕
北九州市立大学国際環境工学研究科情報工学専攻
-
志岐 卓信
北九州市立大学国際環境工学研究科
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