Reduction of Threadimg Dislocation Density and Suppression of Crack Formation in In_xGa_<1-x>P(x〜0.5) Grown on Si(100) Using Strained Short-Period Superlattices

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概要

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• 社団法人応用物理学会の論文
• 1997-02-15

著者

• Takano Yasushi

  Department Of Electrical And Electronic Engineering Toyohashi University Of Technology

• 米津 宏雄

  Department Of Electrical And Electronic Information Engineering Toyohashi University Of Technology

• Takagi Yuji

  Information And Communications Research Center

• Takagi Yuji

  Information And Communications Research Center Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.

• Takagi Y

  Tokyo Inst. Technology Yokohama‐shi Jpn

• YONEZU Hiroo

  Department of Electrical and Electronic Engineering, Toyohashi University of Technology

• TAKAGI Yasufumi

  Department of Electrical and Electronic Engineering, Toyohashi University of Technology

• OHSHIMA Naoki

  Department of Electrical and Electronic Engineering, Toyohashi University of Technology

• Takagi Yoshihiro

  Institute For Molecular Science:(present Address) Himeji Technical University Faculty Of Science

• Takagi Yoshihiro

  Himeji Institute Of Technology Faculty Of Science

• Yonezu Hiroo

  Department Of Electrical And Electronic Engineering Toyohashi University Of Technology

• UESUGI Shinobu

  Department of Electrical and Electronic Engineering, Toyohashi University of Technology

• Uesugi Shinobu

  Department Of Electrical And Electronic Engineering Toyohashi University Of Technology

• Ohshima Naoki

  Department Of Electrical And Electronic Engineering Toyohashi University Of Technology

• Ohshima N

  Nec Corp. Kanagawa Jpn

• Tagaki Yuji

  Information & Communications Research Center Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.

• Takano Yoshinobu

  Advanced Technology Research Laboratories, Nippon Steel Corporation

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