中性子ソフトエラーシミュレーションの新展開(新メモリ技術, メモリ応用技術, 一般)
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概要
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近年、LSIのソフトエラーに対する危惧が再び高まりつつある。これはメモリだけでなくロジックのソフトエラーも問題になり始めたからである。近年のソフトエラーの主たる原因は二次宇宙線の中性子である。これまで中性子ソフトエラーシミュレーション技術が開発されてきたが、本発表はこれまでのシミュレーション技術を発展させ、ロジックを含むLSIに適応させた結果を報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-04-08
著者
-
岡 秀樹
株式会社富士通研究所
-
岡 秀樹
(株)富士通研究所
-
芦澤 芳夫
株式会社富士通研究所
-
佐藤 成生
(株)富士通研究所
-
戸坂 義春
(株)富士通研究所
-
上村 大樹
株式会社富士通研究所
-
戸坂 義春
株式会社富士通研究所
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佐藤 成生
株式会社富士通研究所
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上村 大樹
MIRAI-Selete
-
上村 大樹
富士通セミコンダクタ
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