上村 大樹 | MIRAI-Selete

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概要

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関連著者

• 上村 大樹

  MIRAI-Selete

• 上村 大樹

  富士通セミコンダクタ

• 岡 秀樹

  株式会社富士通研究所

• 岡 秀樹

  (株)富士通研究所

• 戸坂 義春

  (株)富士通研究所

• 熊代 成孝

  Mirai-selete

• 芦澤 芳夫

  株式会社富士通研究所

• 最上 徹

  (株)半導体先端テクノロジーズ

• 畑中 吉治

  京大理

• 澤岻 哲也

  沖縄農研セ

• 佐藤 成生

  (株)富士通研究所

• 畑中 吉治

  大阪大学核物理研究センター

• 畑中 吉治

  核物理セ

• 松岡 伸行

  大阪大学核物理研究センター

• 梅田 優

  株式会社ワコム研究所

• 都田 昌之

  株式会社ワコム研究所

• 田中 克彦

  MIRAI-Selete

• 江原 英郎

  (株)富士通

• 井桁 光昭

  (株)富士通

• 上村 大樹

  (株)富士通研究所

• 都田 昌之

  山形大学工学部物質工学科

• 上村 大樹

  琉大農

• 田場 聡

  琉大農

• 那須 奏美

  沖縄県農改セ

• 諸見里 善一

  琉大農

• 上村 大樹

  株式会社富士通研究所

• 戸坂 義春

  株式会社富士通研究所

• 佐藤 成生

  株式会社富士通研究所

• 最上 徹

  MIRAI-Selete

• 高橋 匠

  山形大学工学部

• 諸見里 善一

  琉球大学農学部

• 竹内 幹

  Mirai-selete

• 中村 英之

  MIRAI-Selete

• 福田 寿一

  MIRAI-Selete

• 諸見里 善一

  琉球大農

• 上村 大樹

  山形大学工学部

• 縄野 真久

  山形大学工学部

• 梅田 優

  株式会社 渡辺商行

• 楠原 昌樹

  株式会社 渡辺商行

• 矢元 久良

  株式会社ワコム電創

• 深川 満

  株式会社ワコム電創

• 庄司 正文

  株式会社ワコム電創

• 阿久戸 和哉

  株式会社ワコム電創

• 上村 大樹

  富士通セミコンダクター(株)

• 都田 昌之

  山形大学工学部

• 阿久戸 和哉

  国立大学法人山形大学大学院理工学研究科

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著作論文

• 90/130nmテクノロジのCMOS回路におけるソフトエラー(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
• 病害短信 Alternaria alternata (Fries) Keisslerによるヤエヤマアオキ褐斑病(新称)
• (63) Alternaria alternataによるヤエヤマアオキ黒斑病(新称)(平成20年度日本植物病理学会大会講演要旨)
• 中性子ソフトエラーシミュレーションの新展開(新メモリ技術, メモリ応用技術, 一般)
• インバータセルにおけるSingle-Event-Transientパルス発生のモデリング(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• Flash-MOCVD強誘電体薄膜形成装置の基礎と量産化技術(物性,成膜,加工,プロセス : 強誘電体薄膜とデバイス応用)
• AT-1-3 地上ソフトエラーにおける対策技術の動向(AT-1.集積回路におけるソフトエラー-測定法,回路技術,EDA-,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
• ソフトエラー評価技術と対策技術(高信頼性技術)

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