プロセス代数に基づく非同期式論理回路の設計検証 (非同期式回路/システム設計論文小特集)
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概要
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同期式論理回路におけるクロックスキューや消費電力などの問題から非同期式論理回路が注目されている. 一方, 非同期式回路は同期式回路に比べて設計が難しく, 設計検証の必要性は高い. そこで, 本論文では非同期式回路の設計検証を行う一方式を提案する. 本方式では, 検証対象の回路および仕様をプロセス代数を用いてモデル化し, 仕様記述と実現記述の並列合成を計算することにより, 回路の仕様に対する正しさを判定する. この方式では, 記述の可読性が高く, また完全な自動検証が可能である. 更に, 限定されたlivenessの性質を効率良く検査できるという特徴をもつ.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-25
著者
-
南谷 崇
東京大学先端科学技術研究センター
-
柴山 充文
東京工業大学大学院情報理工学研究科計算工学専攻:(現)日本電気マイクロエレクトロニクス研究所
-
米田 友洋
国立情報学研究所
-
米田 友洋
東京工業大学大学院情報理工学研究科計算工学専攻
-
米田 友洋
国立情報学研究所アーキテクチャ科学研究系
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