非同期式回路に基づく耐劣化故障性実現に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
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概要
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半導体プロセス技術の進歩に伴い,大規模でディペンダブルなVLSIを実現する上で,今までにないようなタイプの故障が問題となりつつある.本稿は,使用中のストレスに起因するチップ内の局所的な性能劣化がハードウェア演算装置に与える影響について,データフローグラフレベルで解析し,非同期式回路による回路実現の優位性を示すとともに,非同期式回路と演算器再割り当てに基づいて耐劣化故障性を実現する一手法を提案する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-04-16
著者
-
松本 敦
東北大学電気通信研究所
-
羽生 貴弘
東北大学電気通信研究所
-
今井 雅
東京大学駒場オープンラボトリー
-
米田 友洋
国立情報学研究所
-
今井 雅
東京大学
-
中村 祐一
日本電気システムIPコア研究所
-
米田 友洋
国立情報学研究所アーキテクチャ科学研究系
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