乱数伝搬度に着目したBIST評価手法

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概要

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高集積化が進むDSP-LSIに対するテスト容易化の一手法として、BIST(Built-In Self Test)があげられる。しかし、BISTは一般にテストパターン長が長くなるため、故障検出率算出等の評価は困難になりつつある。そこで、評価の高効率化、低コスト化を可能とするB1ST評価手法を検討している。本稿では、DSP-LSIのコアである、演算器がネットワーク結合されたDPU(Path Unit)に対するBIST評価手法を提案し、実回路に適用した評価結果を示す。
一般社団法人情報処理学会の論文
1992-09-28

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