規則的パターンと乱数パターンを組み合わせたBIST構成法
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概要
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テストコスト削減に有効なテスト容易化手法として、疑似乱数発生器を用いたBIST(Built-In Self-Test)手法が提案されている。BISTは、演算器等の組み合わせ回路に対し、高故障検出率を得ることが可能である。しかし、制御回路を含んだ演算ブロック全体に適用した場合、十分な故障検出率が得られない場合が多く、BISTが適用可能な回路規模、種別が大きく制限されていた。本報告では、規則的パターン(方形波、パルス波) を乱数パターンと組み合わせてBISTを構成する手法を提案し、制御回路を含む演算プロックに適用した評価結果を示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
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