SSI/MSI論理よりLSI論理への論理の再構成手法
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
論理装置のカスタムLSI化に際し, 既存のSSI/MSIの論理をLSI論理に自動的に再構成することは設計ミスやLSIのデバッグの削除など開発期間の短縮に非常に有効である. 本文では, 元のTTL-SSI/MSIのNAND系論理をNOR系のマスタスライスLSI論理に再構成する一般的な手法を述べ, この手法に基づくプログラムを作成し, ある機種に適用して非常に有効であることを実証した. 本手法は, 再構成された論理を設計者が容易に理解できるよう元の論理回路構成を維持して再構成を行う方式であり, このため, 各SSI/MSIごとにLSIで実現可能なライブラリを準備し, ライブラリによる置き換えを行い, その後, 不要な端子や素子の削除, この置き換えにより生じる多くのインバータのリダクション等論理の簡単化を行う方法とした. 本手法では不要端子・素子の削除およびインバータリダクションが重要な部分であり, このため, これらのアルゴリズムを求めた. 各種論理の適用結果, 本文で述べる条件では, 統計的に, 元の回路の総ゲート数±20%程度がLSI論理のゲート数となることが解った.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1981-03-15
著者
-
寺井 正幸
株式会社ルネサステクノロジ製品技術本部
-
寺井 正幸
三菱電機(株)カスタムlsi設計技術開発センター
-
村井 真一
三菱電機(株)
-
中村 俊一郎
三菱電機(株) 情報電子研究所
-
田中 千代治
三菱電機(株)開発本部計算機研究部
-
樹下 行三
広島大学総合科学部
-
村井 真一
三菱電機(株)開発本部
-
田中 千代治
三菱電機(株)情報システム研究所
-
中村 俊一郎
三菱電機(株)開発本部
関連論文
- LSIのゲート配置可能性の一判定法
- 高速データベースマシンHDMの高速ホストインターフェースの開発
- 高速データベースマシンHDMにおけるDynamic SQLの実現
- 高速データベースマシンHDMの障害回復方式
- 大規模ゲートアレーにおける配線混雑緩和を目的とした"padding"による配置改善の一手法
- 「アンテナ効果」を低減するASIC設計向けの配線手法 (電子システムの設計技術と設計自動化)
- 配線混雑緩和を目的とした大規模ゲートアレイ用配置改善手法
- 3層チャネルレスSOGのための高速配線手法
- 3層チャネルレスSOGのための高速配線手法
- 敷き詰め型ゲートアレイの自動配置における対話編集機能の実現
- 動的ネット重み調整によるタイミング保証ミニカット配置手法
- CMOSゲートアレイ用マクロセル自動レイアウトシステム
- 信号間の相互影響を考慮したバッファ挿入によるクロストークノイズ削減の-手法(レイアウト設計,システムLSI設計とその技術)
- 大規模高速ASIC用クロック分配回路レイアウト設計ツールの開発(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- ディープサブミクロンLSI設計における仮想配線容量見積りの精度向上の一手法
- システムLSI用クロック分配回路設計及びスキュー解析用CADツール (特集 IT時代におけるLSI)
- 2次元トランジスタ配置構造を持つCMOSセルレイアウト生成システム (電子システムの設計技術と設計自動化)
- 配線混雑度を考慮した仮想配線容量見積り手法
- CMOSマクロセル生成における階層的トランジスタ配置手法
- 2次元トランジスタ配置構造をもつCMOSセルの生成における自動配線手法
- CMOSマクロセル生成における階層的トランジスタ配置手法
- ディスク・キャッシュ装置のシミュレーションによる効果測定
- 90nm級SoCプロセス対応配線キャラクタライズ手法(タイミング解析)(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- 対話型2点問配線プログラムの開発
- グローバル配線におけるネットの配線順序についての一考察
- タイミング駆動型ミニカット配置アルゴリズム
- マスタスライス方式レイアウトにおける横トラック数の考察
- システムLSI用クロック分配回路設計手法とそのスキュー解析手法(電子システムの設計技術と設計自動化)
- マクロセルレイアウト生成用トランジスタ配置手法 : 2つの階層を同時に処理する階層的配置手法
- SSI/MSI論理よりLSI論理への論理の再構成手法
- 10値を用いた順序回路の検査系列生成アルゴリズム
- 障害となる既配線の押し退け可能性を考慮した自動配線手法
- 疎結合型マルチプロセッサ上の拡散型動的負荷分散方式 : LLS-G 方式
- 高速リレ-ショナルデ-タベ-スマシンHDM
- 論文誌の分冊
- 冗長回路削除プログラム用ライブラリの自動作成
- ランダムロジックで構成したプロセッサ制御回路の検査容易化設計
- LSIの故障診断技術 (LSI試験技術)
- VLSIのテストと高信頼性 (システムにおける安全性と高信頼性)
- 4. 論理装置の故障診断 4.1 テストとCDA (論理装置CADの最近の動向)
- コンピュータの信頼性と耐故障技術
- 論理回路の故障検査 (高信頼化技術)
- 構造記述関数を用いた回路の故障検査について
- マイクロコンピュ-タのソフトウェア開発手法 (システムと制御技術展′79特集号)
- VLSIのテスト容易化設計技術の研究動向 (VLSIのテスト容易化設計)
- 論理素子名の置換プログラム
- 種々のチップ構造のゲートアレイに適用可能な配線プログラム
- 10値を用いた組合せ回路の検査系列生成法
- レジスタ・ファイルを含む論理回路のテストパターン自動生成
- 構造記述関数を用いた組合せ回路の故障検査について