10値を用いた組合せ回路の検査系列生成法
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概要
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検出可能な故障に対して検査入力を生成する手法として, Dアルゴリズムがよく知られており, 実用化されている. しかしながら, Dアルゴリズムは, 誤り訂正回路のような排他的論理和ゲートの多い回路への適用は実用的でないとされている. そこで, これを改良した9-Vアルゴリズム, PODEMアルゴリズム, FANアルゴリズムなどが考案されている. 本論文では, 信号線の値として, 0, 1, D, D^^-, Xの5値にさらに, D/0, D/1, D^^-/0, D^^-/1, D/D^^-の5値を加えた10値を用いた検査系列生成法を提案する. 本手法は, 0, 1, D, D^^-, Xの5値を用いた含意操作と, 先の10値を用いた含意操作, および後方追跡の三つの基本操作から構成されている. 検査入力は, この基本操作を繰り返して外部入力へ信号値を割り当て, 故障信号を外部出力へ伝搬させる経路活性化法により生成している. 一般に経路活性化法では, 故障信号を伝搬させる経路に関連する信号値を決めるときや, 分岐点における伝搬経路とその数の選択に自由度がある. この自由度の選び方が検査入力生成に関係するが, 本手法では, 10値を用いることにより自由度を減らし, 検査系列生成時間の高速化を試みている.
- 1983-07-15
著者
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