構造記述関数を用いた組合せ回路の故障検査について
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1981-08-00
著者
関連論文
- SSI/MSI論理よりLSI論理への論理の再構成手法
- 10値を用いた順序回路の検査系列生成アルゴリズム
- ランダムロジックで構成したプロセッサ制御回路の検査容易化設計
- LSIの故障診断技術 (LSI試験技術)
- VLSIのテストと高信頼性 (システムにおける安全性と高信頼性)
- 4. 論理装置の故障診断 4.1 テストとCDA (論理装置CADの最近の動向)
- コンピュータの信頼性と耐故障技術
- 論理回路の故障検査 (高信頼化技術)
- 構造記述関数を用いた回路の故障検査について
- マイクロコンピュ-タのソフトウェア開発手法 (システムと制御技術展′79特集号)
- VLSIのテスト容易化設計技術の研究動向 (VLSIのテスト容易化設計)
- 10値を用いた組合せ回路の検査系列生成法
- 構造記述関数を用いた組合せ回路の故障検査について