樹下 行三 | 広島大学総合科学部
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概要
関連著者
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樹下 行三
広島大学総合科学部
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高松 雄三
佐賀大学理工学部
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寺井 正幸
株式会社ルネサステクノロジ製品技術本部
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寺井 正幸
三菱電機(株)カスタムlsi設計技術開発センター
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村井 真一
三菱電機(株)
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中村 俊一郎
三菱電機(株) 情報電子研究所
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田中 千代治
三菱電機(株)開発本部計算機研究部
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村井 真一
三菱電機(株)開発本部
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田中 千代治
三菱電機(株)情報システム研究所
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渡辺 浩
佐賀大学工学研究科
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樹下 行三
広島大学総合科学部 : 現在大阪大学工学部応用物理学科
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中村 俊一郎
三菱電機(株)開発本部
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白石 勝
佐賀大学理工学部電子工学科
著作論文
- SSI/MSI論理よりLSI論理への論理の再構成手法
- 10値を用いた順序回路の検査系列生成アルゴリズム
- ランダムロジックで構成したプロセッサ制御回路の検査容易化設計
- LSIの故障診断技術 (LSI試験技術)
- VLSIのテストと高信頼性 (システムにおける安全性と高信頼性)
- 4. 論理装置の故障診断 4.1 テストとCDA (論理装置CADの最近の動向)
- コンピュータの信頼性と耐故障技術
- 論理回路の故障検査 (高信頼化技術)
- 構造記述関数を用いた回路の故障検査について
- マイクロコンピュ-タのソフトウェア開発手法 (システムと制御技術展′79特集号)
- VLSIのテスト容易化設計技術の研究動向 (VLSIのテスト容易化設計)
- 10値を用いた組合せ回路の検査系列生成法
- 構造記述関数を用いた組合せ回路の故障検査について