27p-HG-14 FASTBUSケーブルセグメントの基本テスト
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
23aSH-1 GeVガンマ線観測衛星GLASTの初期ステータス(23aSH X線・γ線,宇宙線・宇宙物理領域)
-
23pSH-13 宇宙ガンマ線衛星GLASTの最終組み上げ試験と現状(23pSH X線・γ線,宇宙線・宇宙物理領)
-
15pSA-8 宇宙ガンマ線衛星GLASTの地上較正実験(15pSA X線・γ線 : X線・衛星γ,宇宙線・宇宙物理領域)
-
7p-F-12 TAGXスペクトロメーター用CDCの開発
-
2p-E-9 0.7Gev/c反陽子-陽子=重弾性散乱によるpolarizationの測定
-
14a-D-13 TAGXによる重水素からのdouble-π photoproduction mechanismの研究
-
28aSD-3 カンマ線コンプトンカメラ用シリコンストリップの開発(X 線, 宇宙線)
-
29a-SK-4 SVX-IIシリコンマイクロストリップ検出器のビームテスト
-
31a-W-4 放射線損傷に強いシリコン両面マイクロストリップ検出器の開発II
-
31a-W-3 放射線損傷に強いシリコン両面マイクロストリップ検出器の開発I
-
30a-C-10 γ線がSSDのn^+ストリップ側に与える影響
-
28a-W-3 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 II
-
28a-W-2 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 I
-
4p-G-5 AC結合マイクロストリップセンサーの絶縁体と読み出し電極の研究
-
30p-ZP-5 SDC用試作シリコンストリップ検出器のγ線損傷実験
-
30p-ZP-4 SDC用試作シリコンストリップ検出器
-
2a-K-6 インターネットを利用した教育映像配信システムの構築(2)
-
2a-K-5 インターネットを利用した教育映像配信システムの構築(1)
-
22PYE-1 CDF SVX-II用シリコン検出器ラダーの量産
-
30aSG-5 シリコンの電気特性に及ぼす陽子線照射の影響
-
30aSG-3 CDF SVX-IIシリコン検出器ラダーの性能評価
-
30aSG-2 赤外線CCDカメラによるSVX-IIシリコンマイクロストリップ検出器の検査
-
26aSL-3 量産SVX-IIシリコンマイクロストリップセンサーの性能評価
-
3a-A-10 p-in-nとn-in-nシリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷の評価
-
3a-A-6 シリコン・マイクロストリップ検出器の信号シミュレーション
-
1p-D-7 シリコン検出器のバルク型変換後のn側ブレイクダウン
-
20a-G-5 赤外線CCDカメラによるシリコンストリップ検出器の微小放電の観測
-
20a-G-4 両面シリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷テスト
-
2a-G-11 Si単結晶からの高エネルギー制動放射の角分布異常
-
2a-SB-4 TAGXによるΔ領域での^4He(γ, pn)、^4He(γ, pp)反応核研
-
5p-P-14 1.2GeV電子によるAl原子散乱因子の測定
-
5p-P-13 1.2GeV電子によるSi原子散乱因子の測定 : 不完全性の影響
-
4p-L-2 Si単結晶における軸方向高エネルギー制動放射の異状
-
3p-F-7 TAGEによる^4He核内での核子-核子相関の研究
-
3p-F-6 TAGXによるγ^4He反応での光子吸収機構の研究
-
28a-Z-3 コヒーレント制動放射の精密測定と原始散乱因子
-
27p-HG-13 FASTBUS Segment Interconnect の試作
-
8a-L-3 半導体検出器の放射線損傷
-
31p-AD-1 π^-P弾性散乱実験のターゲット・システム
-
29a-YD-4 Si多層膜からの33keVX線の測定
-
8p-A-5 チャネリング過程による単結晶からの陽電子生成の研究
-
広島大学電子周回装置Si多層膜標的の開発
-
27p-S-2 共鳴遷移放射X線用Si多層膜の開発(II)
-
29p-YB-13 Si多層膜からのコヒーレントなX線の測定
-
27p-HG-14 FASTBUSケーブルセグメントの基本テスト
-
30a-B-10 反陽子-陽子消滅における横方向運動量
-
30a-B-3 半自動泡箱写真測定のための回転プローブの試作
-
11p-D-6 泡箱写真手動測定機のオンライン化
-
14p-E-7 汎用ルックアップテーブルモジュールの設計
-
14p-E-6 VENUS TRIGGERシステムの改良
-
28a-ZB-13 両面シリコンストライプ検出器の陽子ビームによる損傷テストII
-
28a-ZB-13 両面シリコンストライプ検出器の陽子ビームによる損傷テストII
-
31a-YS-4 シリコンストリップ検出器の陽子線損傷の研究
-
31a-YS-3 シリコン検出器のn側アイソレーションの研究
-
8p-B-4 n側読み出しシリコンストリップ検出器の放射線損傷に伴うブレイクダウン現象
-
11p-D-3 γ+n → π^-+P 角分布の測定
-
7a-A-4 電子陽子非弾性散乱 II
-
7a-A-3 電子-陽子非弾性散乱 (I)
-
4a-B-9 電子エネルギー130MeV におけるパラメトリックX線の測定
-
2p-D-6 光子光子衝突型加速器における、電子・レーザー相互作用のシミュレーション
-
29p-YS-3 パラメトリックX線の結晶厚さ依存性
-
18a-A-4 低エネルギー陽子-反陽子反応 II
-
18a-A-2 泡箱写真解析用 Image Plane Digitizerの製作と較正
-
泡箱写真による2.77 GeV/C π^+p弾性散乱の解析 : 高エネルギー原子核実験
-
27a-ZM-11 CsI検出器を利用した学生実験用ガンマ線スペクトロメータの開発
-
8p-B-3 CDF改良型バーテックス検出器用、二重金属層、両面読み出しシリコンマイクロストリップ検出器の開発
-
30a-EB-3 Ancillary Logicの開発
-
3p-D1-4 高速Bipolar transistorを用いたSi-microstrip用 VLSIの開発
-
25a-G-7 高エネルギー電子ビーム形状に対するチャネリングの影響の測定
-
14p-F-2 薄膜技術を利用した粒子検出器の開発-II
-
1p-B-3 希土類原子を用いたパリティ非保存実験II
-
8a-Q-7 電気放電生成した準安定状態Sm原子線からのレーザ分光
-
8a-Q-7 電気放電生成した準安定状態Sm原子線からのレーザー分光
-
28a-YK-4 Sm I 4f^66s^2 ^7F_J-4f^66s6p ^7G_遷移のZeeman分光
-
29a-YK-11 ^169Tm(I=1/2)原子超微細遷移の Zeeman 分岐の系統性
-
28a-YK-4 Sm I 4f^6 6s^2 ^7F_J-4f^6 6s6p ^7G_ 遷移のZeeman分光
-
SmI微細準位のテンソル分極率におけるアイソトープ依存性
-
MCDF法による希土類原子波動関数の計算
-
30a-D-9 HISORブースターシンクロトロンの概念設計
-
29p-ZG-5 実用光源としてのパラメトリック放射
-
30a-SK-2 結晶を利用した電子ビーム・ハローの除去
-
30a-SK-1 パラメトリックX線を用いた電子ビームエミッタンスの測定
-
29p-YB-10 薄い結晶からのパラメトリックX線
-
13a-Q-3 吸収端付近でのパラメトリックX線
-
4p-F-4 パラメトリックX線による電子ビーム角度広がりの測定法
-
28a-GC-3 MWPC カソードからの二次元読出し
-
マルチワイヤープロポーショナルチェンバーの2次元読出し
-
2a-HC-10 MWPCのカソード読出しと粒子通過仕置決定法
-
14p-E-8 マイクロプロセッサアレイによるインテリジェントトリガーシステムの開発
-
20a-G-3 熱暴走現象シミュレーションに基づくアトラス実験シリコンマイクロストリップ検出器のモジュール設計
-
31a-B-3 Fermilab√=1.8 TeV pp^^-衝突CDF実験におけるテクニカラー粒子探索
-
26pXD-3 ガンマ線衛星(GLAST)計画
-
26aGS-4 フェルミ・ガンマ線宇宙望遠鏡による超新星残骸G8.7-0.1の観測(26aGS X線・γ線観測,宇宙線・宇宙物理領域)
-
2p-BB-9 VENUS検出器用トリガーマスター モジュールの試作・テスト
-
27p-HG-15 電子-陽電子衝突実験 (VENUS)のトリガーの為のトラック認識プロセッサー
-
27pHD-9 MPPCとシンチレータを用いた携帯型放射線検出器の開発(27pHD 実験核物理領域,素粒子実験領域合同 測定器(III)(合同),実験核物理領域)
-
16aRA-11 シリコン検出器を用いた多重コンプトンガンマ線カメラの開発(X線,宇宙線)
-
27a-BA-13 シリコン・ストリップ検出器の放射線損傷(素粒子実験)
-
13aRA-2 次期γ線衛星GLASTに向けた気球実験のデータ解析(高エネルギーガンマ線,宇宙線)
-
31a-N-14 高速Bi-polar transistorのradiation damage(31a N 素粒子実験(測定器開発),素粒子実験)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク