31a-W-4 放射線損傷に強いシリコン両面マイクロストリップ検出器の開発II
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1995-03-16
著者
-
大杉 節
広島大理
-
高嶋 隆一
京教大
-
岩崎 博行
KEK
-
浅井 慎
SLAC
-
岩田 洋世
広島大理
-
大山 博史
広島商船高専
-
半田 隆信
広島大理
-
栗野 浩一
広島大理
-
田村 詔生
岡山大理
-
前大道 浩之
岡山大理
-
高旗 誠
岡山大理
-
高嶋 隆一
京都教育大
-
海野 義信
KEK
-
高力 孝
KEK
-
大山 博史
広島大理
-
吉川 満俊
広島大理
-
浅井 慎
広島工大
-
木村 晃徳
広島工大
-
米沢 良治
広島工大
-
近藤 敬比古
KEK
-
寺田 進
KEK
-
岩崎 博之
KEK
-
山本 晃永
浜松ホトニクス
-
山村 和久
浜松ホトニクス
-
海野 義信
高エ研
-
寺田 進
高エ研
-
高力 孝
高エ研
-
木村 彰徳
広島工大
-
岩崎 浩之
KEK
-
栗野 浩一
広大理
-
高旗 誠
新潟大自
-
浅井 慎
広島工大工
-
近藤 敬比古
高エネルギー加速器研究機構
-
米沢 良治
広島工業大学
-
岩崎 浩之
高エ研
-
山村 和久
浜松ホトニクス・固体事業部
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