3a-A-10 p-in-nとn-in-nシリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷の評価
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1998-09-05
著者
-
大杉 節
広島大理
-
高嶋 隆一
京教大
-
福永 力
首都大理工
-
大杉 節
広大理
-
岩田 洋世
広島大理
-
山下 智弘
大工大
-
高力 孝
KEK
-
近藤 敬比古
KEK
-
近藤 敬比古
高エ研
-
海野 義信
高エ研
-
寺田 進
高エ研
-
高力 孝
高エ研
-
里 健一
広島大理
-
里 健一
広大理
-
岩田 洋世
広大理
-
中野 逸夫
岡大理
-
山下 智弘
岡大理
-
池田 正寛
広大理
-
北山 栄美
岡大理
-
福永 力
東都大
-
近藤 敬比古
高エネルギー加速器研究機構
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