里 健一 | 広大理
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概要
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- 3a-A-10 p-in-nとn-in-nシリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷の評価
- 1p-D-7 シリコン検出器のバルク型変換後のn側ブレイクダウン
- 20a-G-5 赤外線CCDカメラによるシリコンストリップ検出器の微小放電の観測