寺田 進 | KEK
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概要
関連著者
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寺田 進
KEK
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大杉 節
広島大理
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高嶋 隆一
京教大
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岩田 洋世
広島大理
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高嶋 隆一
京都教育大
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海野 義信
KEK
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高力 孝
KEK
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近藤 敬比古
KEK
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海野 義信
高エ研
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寺田 進
高エ研
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高力 孝
高エ研
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近藤 敬比古
高エネルギー加速器研究機構
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大本 貴文
広島大理
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半田 隆信
広島大理
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北林 宏章
広大理
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栗野 浩一
広大理
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中野 逸夫
岡山大理
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岩崎 博行
KEK
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岩崎 浩之
KEK
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栗野 浩一
広島大理
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浅井 慎
SLAC
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大杉 節
広大理
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中尾 将志
岡山大理
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山村 和久
浜松ホトニクス
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岩田 洋世
広大理
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大本 貴文
広大理
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池田 正寛
広大理
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半田 隆信
広大理
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北林 宏章
広島大理
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藤田 一樹
広島大理
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山村 和久
浜松ホトニクス・固体事業部
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大山 博史
広島商船高専
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原 和彦
筑波大数物
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田村 詔生
岡山大理
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前大道 浩之
岡山大理
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高旗 誠
岡山大理
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大山 博史
広島大理
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吉川 満俊
広島大理
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浅井 慎
広島工大
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山本 晃永
浜松ホトニクス
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木村 彰徳
広島工大
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里 健一
広島大理
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佐藤 卓
広島大理
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原 和彦
筑波大物理
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下島 真
筑波大物理
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里 健一
広大理
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中野 逸夫
岡山大学
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高旗 誠
新潟大自
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浅井 慎
広島工大工
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原 和彦
筑波大・物理
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中野 逸夫
岡山大学大学院 自然科学研究科
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原 和彦
筑波大
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岩崎 浩之
高エ研
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下島 真
長崎総科大情報
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下島 真
長崎総合科学大学知能情報学科
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春山 富義
KEK
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石元 茂
KEK
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鈴木 祥仁
KEK
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福永 力
首都大理工
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大森 恒彦
KEK
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土屋 清澄
KEK
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三戸 利行
Kek
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荒岡 修
KEK
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浅井 慎
広工大
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木村 晃徳
広島工大
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米沢 良治
広島工大
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岩崎 博之
KEK
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近藤 敬比古
高エ研
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畠中 照明
岡山大理
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近藤 敬比呂
KEK
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池上 陽一
KEK素核研
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池上 陽一
高エ研
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佐々木 実
広島大理
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中野 逸夫
岡大理
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福永 力
東京都立大理
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高橋 幸久
広大理
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粟野 浩一
広大理
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池田 正寛
広島大理
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堺井 義秀
KEK
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土井 義城
KEK
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近藤 良也
KEK
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川井 正徳
KEK
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藤田 一樹
広大理
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中尾 将志
岡大理
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中野 逸夫
岡大物理
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真木 晶弘
KEK
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米沢 良治
広島工業大学
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多田野 幹人
KEK
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佐々木 実
山形大学理学部
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佐川 宏行
KEK
-
鈴木 秀司
KEK
著作論文
- 31a-W-4 放射線損傷に強いシリコン両面マイクロストリップ検出器の開発II
- 30a-C-10 γ線がSSDのn^+ストリップ側に与える影響
- 30aSG-5 シリコンの電気特性に及ぼす陽子線照射の影響
- 3a-A-6 シリコン・マイクロストリップ検出器の信号シミュレーション
- 1p-D-7 シリコン検出器のバルク型変換後のn側ブレイクダウン
- 20a-G-5 赤外線CCDカメラによるシリコンストリップ検出器の微小放電の観測
- 20a-G-4 両面シリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷テスト
- 31a-YS-4 シリコンストリップ検出器の陽子線損傷の研究
- 31a-YS-3 シリコン検出器のn側アイソレーションの研究
- 8p-B-4 n側読み出しシリコンストリップ検出器の放射線損傷に伴うブレイクダウン現象
- 28a-GB-4 AMY 3テスラ超伝道電磁石の冷却試験I(宇宙線(超高エネルギー))