大本 貴文 | 広島大理
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概要
関連著者
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大本 貴文
広島大理
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大杉 節
広島大理
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岩田 洋世
広島大理
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高嶋 隆一
京教大
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海野 義信
KEK
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高嶋 隆一
京都教育大
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高力 孝
KEK
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海野 義信
高エ研
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高力 孝
高エ研
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半田 隆信
広島大理
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大山 博史
広島商船高専
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田村 詔生
岡山大理
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近藤 敬比古
KEK
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寺田 進
KEK
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寺田 進
高エ研
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北林 宏章
広大理
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栗野 浩一
広大理
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近藤 敬比古
高エネルギー加速器研究機構
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大山 博史
広島大理
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宮田 等
新潟大理
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中野 逸夫
岡山大理
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村上 明
佐賀大理工
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宮野 和政
新潟大学
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大杉 節
広大理
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栗野 浩一
広島大理
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中尾 将志
岡山大理
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小林 茂治
佐賀大理工
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醍醐 元正
和歌山県立医大
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高島 隆一
京都教育大教
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樋口 正人
東北学院大工
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宮野 和政
新潟大理
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里 健一
広島大理
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岩田 洋世
広大理
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大本 貴文
広大理
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醍醐 元正
和歌山県立医科大学物理学教室
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樋口 正人
東北学院大学
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小林 茂治
佐賀大学理工学部物理科学科
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樋口 正人
東北学院大
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樋口 正人
東北学院大学 工学部
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岩崎 博行
KEK
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吉川 満俊
広島大理
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畠中 照明
岡山大理
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岩崎 浩之
KEK
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里 健一
広大理
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北林 宏章
広島大理
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藤田 一樹
広島大理
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氏家 宣彦
高エ研
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山本 晃永
浜松ホトニクス
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山村 和久
浜松ホトニクス
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後藤 公徳
広島大理
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日出 富士雄
高エ研
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中野 逸夫
岡山大学
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池田 正寛
広大理
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半田 隆信
広大理
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中野 逸夫
岡山大学大学院 自然科学研究科
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山村 和久
浜松ホトニクス・固体事業部
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後藤 公徳
広大放射光科学研究センター
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氏家 宣彦
高エネルギー物理学研究所
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高島 隆一
東理大理
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山本 博基
広島大理
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浅井 慎
SLAC
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氏家 宣彦
KEK
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前大道 浩之
岡山大理
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高旗 誠
岡山大理
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日出 富士雄
KEK
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岡田 学
広島大理
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林 邦幸
広島大理
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赤城 卓
東北大理
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増田 剛
広島大理
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中野 逸夫
岡大理
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高旗 誠
新潟大自
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他cdf Svx・iiグループ
Purdue大:new Mexico大:fnal:john Hopkins大:lbl
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浅井 慎
広工大
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Kajfasz Erick
Fermi研究所
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Frautschi Mark
New Mexico大
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Thomas Tim
New Mexico大
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Yi Cen
Rochester大
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Hoffman Kara
Purdue大
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Gay Colin
Harvard大
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Spalding Jeff
Fermi研究所
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Shepard Paul
Pittsburg大
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Seidel Sally
New Mexico大
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浅井 慎
広島工大
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木村 彰徳
広島工大
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近藤 敬比呂
KEK
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田村 昭生
岡山大理
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岩田 康
広島大理
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村松 雅治
岡山大理
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緒方 聖
広大理
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増田 剛
広大理
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榎園 昭智
広大理
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山本 博基
広大理
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葉山 義久
浜松ホトニクス
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高橋 幸久
広大理
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粟野 浩一
広大理
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池田 正寛
広島大理
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浅井 慎
広島工大工
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大本 貴文
広島大学工学部
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村松 雅治
浜松ホトニクス(株)、電子管事業本部
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藤田 一樹
広大理
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中尾 将志
岡大理
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CDF SVX-IIグループ
Purdue大
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白井 淳平
KEK
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他VENUS Collaboration
VENUS Collaboration
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岩崎 浩之
高エ研
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榎園 昭智
広島大物理
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Svx-ii Collaboration
Cdf Svx-ii Collaboration
著作論文
- 29a-SK-4 SVX-IIシリコンマイクロストリップ検出器のビームテスト
- 30a-C-10 γ線がSSDのn^+ストリップ側に与える影響
- 28a-W-3 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 II
- 28a-W-2 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 I
- 4p-G-5 AC結合マイクロストリップセンサーの絶縁体と読み出し電極の研究
- 30p-ZP-5 SDC用試作シリコンストリップ検出器のγ線損傷実験
- 30p-ZP-4 SDC用試作シリコンストリップ検出器
- 30aSG-3 CDF SVX-IIシリコン検出器ラダーの性能評価
- 30aSG-2 赤外線CCDカメラによるSVX-IIシリコンマイクロストリップ検出器の検査
- 26aSL-3 量産SVX-IIシリコンマイクロストリップセンサーの性能評価
- 1p-D-7 シリコン検出器のバルク型変換後のn側ブレイクダウン
- 20a-G-5 赤外線CCDカメラによるシリコンストリップ検出器の微小放電の観測
- 20a-G-4 両面シリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷テスト
- 31a-YS-4 シリコンストリップ検出器の陽子線損傷の研究
- 31a-YS-3 シリコン検出器のn側アイソレーションの研究
- 8p-B-4 n側読み出しシリコンストリップ検出器の放射線損傷に伴うブレイクダウン現象
- 8p-B-3 CDF改良型バーテックス検出器用、二重金属層、両面読み出しシリコンマイクロストリップ検出器の開発
- 5p-F-4 TRISTAN VENUS測定器によるマルチハドロン事象中のスカラートップクォーク探索