29a-SK-4 SVX-IIシリコンマイクロストリップ検出器のビームテスト

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1995-09-12

著者

• 大杉 節

  広島大理

• 高嶋 隆一

  京教大

• 岩田 洋世

  広島大理

• 大山 博史

  広島商船高専

• 大本 貴文

  広島大理

• 半田 隆信

  広島大理

• 栗野 浩一

  広島大理

• 田村 詔生

  岡山大理

• 前大道 浩之

  岡山大理

• 高旗 誠

  岡山大理

• 中尾 将志

  岡山大理

• 高嶋 隆一

  京都教育大

• 海野 義信

  KEK

• 高力 孝

  KEK

• Kajfasz Erick

  Fermi研究所

• Frautschi Mark

  New Mexico大

• Thomas Tim

  New Mexico大

• Yi Cen

  Rochester大

• Hoffman Kara

  Purdue大

• Gay Colin

  Harvard大

• Spalding Jeff

  Fermi研究所

• Shepard Paul

  Pittsburg大

• Seidel Sally

  New Mexico大

• 海野 義信

  高エ研

• 高力 孝

  高エ研

• 栗野 浩一

  広大理

• 高旗 誠

  新潟大自

• 他cdf Svx・iiグループ

  Purdue大:new Mexico大:fnal:john Hopkins大:lbl

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