28a-ZB-13 両面シリコンストライプ検出器の陽子ビームによる損傷テストII
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1991-09-12
著者
-
宮田 等
新潟大理
-
大杉 節
広島大理
-
安東 愛之輔
姫路工業大学高度産業科学技術研究所
-
畑中 吉治
京大理
-
田村 詔生
岡山大理
-
小林 茂治
佐賀大理工
-
醍醐 元正
和歌山県立医大
-
畑中 吉治
大阪大学核物理研究センター
-
畑中 吉治
核物理セ
-
安東 愛之助
兵庫県立大学
-
醍醐 元正
和歌山医大
-
後藤 峰彦
佐賀大理工
-
安藤 愛之輔
核物理セ
-
水野 義之
核物理セ
-
小林 茂治
佐賀大学理工学部物理科学科
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