28a-W-3 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 II

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1994-03-16

著者

• 宮田 等

  新潟大理

• 大杉 節

  広島大理

• 高嶋 隆一

  京教大

• 村上 明

  佐賀大理工

• 宮野 和政

  新潟大学

• 岩田 洋世

  広島大理

• 氏家 宣彦

  高エ研

• 氏家 宣彦

  KEK

• 大山 博史

  広島商船高専

• 大本 貴文

  広島大理

• 半田 隆信

  広島大理

• 海野 義信

  KEK

• 高力 孝

  KEK

• 大山 博史

  広島大理

• 吉川 満俊

  広島大理

• 海野 義信

  高エ研

• 高力 孝

  高エ研

• 畠中 照明

  岡山大理

• 後藤 公徳

  広島大理

• 田村 昭生

  岡山大理

• 日出 富士雄

  KEK

• 小林 茂治

  佐賀大理工

• 醍醐 元正

  和歌山県立医大

• 高島 隆一

  京都教育大教

• 樋口 正人

  東北学院大工

• 宮野 和政

  新潟大理

• 日出 富士雄

  高エ研

• 醍醐 元正

  和歌山県立医科大学物理学教室

• 樋口 正人

  東北学院大学

• 小林 茂治

  佐賀大学理工学部物理科学科

• 樋口 正人

  東北学院大

• 樋口 正人

  東北学院大学 工学部

• 後藤 公徳

  広大放射光科学研究センター

• 氏家 宣彦

  高エネルギー物理学研究所

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