1p-D-7 シリコン検出器のバルク型変換後のn側ブレイクダウン

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1998-03-10

著者

• 大杉 節

  広島大理

• 高嶋 隆一

  京教大

• 大杉 節

  広大理

• 岩田 洋世

  広島大理

• 大本 貴文

  広島大理

• 半田 隆信

  広島大理

• 高嶋 隆一

  京都教育大

• 海野 義信

  KEK

• 高力 孝

  KEK

• 近藤 敬比古

  KEK

• 寺田 進

  KEK

• 海野 義信

  高エ研

• 寺田 進

  高エ研

• 高力 孝

  高エ研

• 里 健一

  広島大理

• 里 健一

  広大理

• 岩田 洋世

  広大理

• 大本 貴文

  広大理

• 中野 逸夫

  岡山大学

• 池田 正寛

  広大理

• 高橋 幸久

  広大理

• 粟野 浩一

  広大理

• 半田 隆信

  広大理

• 北林 宏章

  広大理

• 近藤 敬比古

  高エネルギー加速器研究機構

• 中野 逸夫

  岡山大学大学院 自然科学研究科

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