27a-ZM-11 CsI検出器を利用した学生実験用ガンマ線スペクトロメータの開発
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1991-09-12
著者
関連論文
- 30p-N-7 ^Krの高励起状態上の巨大共鳴
- 7p-F-12 TAGXスペクトロメーター用CDCの開発
- 14a-D-13 TAGXによる重水素からのdouble-π photoproduction mechanismの研究
- 29a-SK-4 SVX-IIシリコンマイクロストリップ検出器のビームテスト
- 31a-W-4 放射線損傷に強いシリコン両面マイクロストリップ検出器の開発II
- 31a-W-3 放射線損傷に強いシリコン両面マイクロストリップ検出器の開発I
- 30a-C-10 γ線がSSDのn^+ストリップ側に与える影響
- 28a-W-3 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 II
- 28a-W-2 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 I
- 4p-G-5 AC結合マイクロストリップセンサーの絶縁体と読み出し電極の研究
- 30p-ZP-5 SDC用試作シリコンストリップ検出器のγ線損傷実験
- 30p-ZP-4 SDC用試作シリコンストリップ検出器
- 2a-K-6 インターネットを利用した教育映像配信システムの構築(2)
- 2a-K-5 インターネットを利用した教育映像配信システムの構築(1)
- 22PYE-1 CDF SVX-II用シリコン検出器ラダーの量産
- 30aSG-5 シリコンの電気特性に及ぼす陽子線照射の影響
- 30aSG-3 CDF SVX-IIシリコン検出器ラダーの性能評価
- 30aSG-2 赤外線CCDカメラによるSVX-IIシリコンマイクロストリップ検出器の検査
- 26aSL-3 量産SVX-IIシリコンマイクロストリップセンサーの性能評価
- 3a-A-10 p-in-nとn-in-nシリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷の評価
- 3a-A-6 シリコン・マイクロストリップ検出器の信号シミュレーション
- 1p-D-7 シリコン検出器のバルク型変換後のn側ブレイクダウン
- 20a-G-5 赤外線CCDカメラによるシリコンストリップ検出器の微小放電の観測
- 20a-G-4 両面シリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷テスト
- 27p-J-9 コヒーレントな制動放射の偏光度測定
- 2a-G-11 Si単結晶からの高エネルギー制動放射の角分布異常
- 2a-SB-4 TAGXによるΔ領域での^4He(γ, pn)、^4He(γ, pp)反応核研
- 5p-P-14 1.2GeV電子によるAl原子散乱因子の測定
- 5p-P-13 1.2GeV電子によるSi原子散乱因子の測定 : 不完全性の影響
- 4p-L-2 Si単結晶における軸方向高エネルギー制動放射の異状
- 3p-F-7 TAGEによる^4He核内での核子-核子相関の研究
- 3p-F-6 TAGXによるγ^4He反応での光子吸収機構の研究
- 28a-Z-3 コヒーレント制動放射の精密測定と原始散乱因子
- 31p-AD-1 π^-P弾性散乱実験のターゲット・システム
- 4p-PSH-3 高分解能クリスタルボール用アンチコンプトンスペクトロメータ
- 7p-F-13 核研の期待充填型同位体分離器
- 29a-YD-4 Si多層膜からの33keVX線の測定
- 8p-A-5 チャネリング過程による単結晶からの陽電子生成の研究
- 広島大学電子周回装置Si多層膜標的の開発
- 27p-S-2 共鳴遷移放射X線用Si多層膜の開発(II)
- 29p-YB-13 Si多層膜からのコヒーレントなX線の測定
- 27p-HG-14 FASTBUSケーブルセグメントの基本テスト
- 31a-YS-4 シリコンストリップ検出器の陽子線損傷の研究
- 31a-YS-3 シリコン検出器のn側アイソレーションの研究
- 8p-B-4 n側読み出しシリコンストリップ検出器の放射線損傷に伴うブレイクダウン現象
- 11p-D-3 γ+n → π^-+P 角分布の測定
- 4a-B-9 電子エネルギー130MeV におけるパラメトリックX線の測定
- 2p-D-6 光子光子衝突型加速器における、電子・レーザー相互作用のシミュレーション
- 29p-YS-3 パラメトリックX線の結晶厚さ依存性
- 27a-ZM-11 CsI検出器を利用した学生実験用ガンマ線スペクトロメータの開発
- 27a-KM-5 SSサイクロトロンの基礎研究
- 3p-NB-7 セパレート・セクター型サイクロトロンの電磁石系
- 8p-B-3 CDF改良型バーテックス検出器用、二重金属層、両面読み出しシリコンマイクロストリップ検出器の開発
- 30a-EB-3 Ancillary Logicの開発
- 25a-G-7 高エネルギー電子ビーム形状に対するチャネリングの影響の測定
- 14p-F-2 薄膜技術を利用した粒子検出器の開発-II
- 1p-B-3 希土類原子を用いたパリティ非保存実験II
- 8a-Q-7 電気放電生成した準安定状態Sm原子線からのレーザ分光
- 8a-Q-7 電気放電生成した準安定状態Sm原子線からのレーザー分光
- 28a-YK-4 Sm I 4f^66s^2 ^7F_J-4f^66s6p ^7G_遷移のZeeman分光
- 29a-YK-11 ^169Tm(I=1/2)原子超微細遷移の Zeeman 分岐の系統性
- 28a-YK-4 Sm I 4f^6 6s^2 ^7F_J-4f^6 6s6p ^7G_ 遷移のZeeman分光
- SmI微細準位のテンソル分極率におけるアイソトープ依存性
- MCDF法による希土類原子波動関数の計算
- 30a-D-9 HISORブースターシンクロトロンの概念設計
- 29p-ZG-5 実用光源としてのパラメトリック放射
- 31a-NB-7 ^Seおよび^Baのガンマ線強度の精密測定
- 9a-YA-13 ガンマ線強度の精密測定I : 測定方法と検出効率
- 30p-R-1 10A・GeV/c金ビームを用いたRHIC-PHENIX用タイムゼロ検出器の性能試験
- 30p-PSA-17 RHIC-PHENIX用タイムゼロ検出器のプロトタイプの製作と試験
- 29p-Z-4 衝突型加速器実験(PHENIX)のためのタイム・ゼロ検出器の開発
- 30a-SK-2 結晶を利用した電子ビーム・ハローの除去
- 30a-SK-1 パラメトリックX線を用いた電子ビームエミッタンスの測定
- 29p-YB-10 薄い結晶からのパラメトリックX線
- 13a-Q-3 吸収端付近でのパラメトリックX線
- 4p-F-4 パラメトリックX線による電子ビーム角度広がりの測定法
- 26a-L-10 パラメトリックX線放射の強度測定
- 26a-L-9 パラメトリックX線のスペクトル異常
- 31a-S-7 Ceの励起状態上に形成された巨大共鳴
- 31a-S-6 ^Csの高スピン核構造
- 12p-D-1 ^Ceの高励起状態からのガンマ線
- 2p-C-1 ニューラルネットワークの粒子実験データの解析への適用
- 20a-G-3 熱暴走現象シミュレーションに基づくアトラス実験シリコンマイクロストリップ検出器のモジュール設計
- SmI微細準位のテンソル分極率におけるアイソトープ依存性
- 2p-C-5 希土類原子パリティ非保存実験の予備測定 : SmIの Zeeman 分岐
- 2p-C-4 希土類原子パリティ非保存実験の予備測定 : SmIのStark 分岐
- 29p-YP-9 原子パリティ非保存実験の予備実験としてのSmIのStark効果測定
- 28p-YS-6 原子パリティ非保存実験のためのCAMAC計測・制御系
- 28p-YS-6 原子パリティ非保存実験のためのCAMAC計測・制御系
- 2a-D-9 希土類原子パリティ非保存の実験的研究
- 2a-D-8 原子パリティ非保存実験に適した希土類原子準位の検索
- 12p-DA-8 TmIの超微細準位のZeeman及びStark効果
- 30a-RB-5 ^Ta ガンマ線強の精密測定
- 31p-NG-2 ^Tmのガンマ線強度の精密測定
- 3p-SF-10 ^Tbのガンマ線強度の精密測定
- 5a-FG-4 ^Sbのガンマ線強度の精密測定
- 30a-GE-7 ^Euおよび^Tbのガンマ線強度の精密測定
- 5a-KE-6 ^Ag および^Irのガンマ線強度の精密測定
- 1a JB-1 ^Mn および ^Coのガンマ線強度の精密測定
- 1a-AG-3 ^Euのガンマ線強度の精密測定