8p-B-4 n側読み出しシリコンストリップ検出器の放射線損傷に伴うブレイクダウン現象
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1996-09-13
著者
-
大杉 節
広島大理
-
高嶋 隆一
京教大
-
岩崎 博行
KEK
-
浅井 慎
SLAC
-
大杉 節
広大理
-
岩田 洋世
広島大理
-
浅井 慎
広工大
-
大本 貴文
広島大理
-
半田 隆信
広島大理
-
中尾 将志
岡山大理
-
高嶋 隆一
京都教育大
-
海野 義信
KEK
-
高力 孝
KEK
-
近藤 敬比古
KEK
-
寺田 進
KEK
-
海野 義信
高エ研
-
寺田 進
高エ研
-
高力 孝
高エ研
-
岩崎 浩之
KEK
-
岩田 洋世
広大理
-
大本 貴文
広大理
-
中野 逸夫
岡大理
-
半田 隆信
広大理
-
北林 宏章
広大理
-
栗野 浩一
広大理
-
近藤 敬比古
高エネルギー加速器研究機構
-
藤田 一樹
広島大理
-
藤田 一樹
広大理
-
中尾 将志
岡大理
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