31a-N-14 高速Bi-polar transistorのradiation damage(31a N 素粒子実験(測定器開発),素粒子実験)
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概要
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- 一般社団法人日本物理学会の論文
- 1989-03-28
著者
-
大杉 節
広大理
-
氏家 宣彦
KEK
-
近藤 敬比古
KEK
-
池田 博一
KEK素核研
-
新井 康夫
Kek
-
渡瀬 芳行
KEK
-
赤沢 幸雄
NTT厚木LSI研究所
-
白石 文夫
立大原子炉
-
池田 博一
KEK
-
大杉 節
広大
-
赤沢 幸雄
NTT厚木LSI研
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