赤沢 幸雄 | NTT厚木LSI研究所

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概要

• 同名の論文著者
• NTT厚木LSI研究所の論文著者

関連著者

• 氏家 宣彦

  KEK

• 近藤 敬比古

  KEK

• 池田 博一

  KEK素核研

• 渡瀬 芳行

  KEK

• 赤沢 幸雄

  NTT厚木LSI研究所

• 池田 博一

  KEK

• 赤沢 幸雄

  NTT厚木LSI研

• 大杉 節

  広島大

• 大杉 節

  広島大理

• 大杉 節

  広大理

• 氏家 宣彦

  高エ研

• 新井 康夫

  Kek

• 池田 博一

  高エネルギー研

• 赤沢 幸雄

  NTT LSI研究所

• 氏家 宣彦

  高エネルギー物理学研究所

• 白石 文夫

  立大原子炉

• 大杉 節

  広大

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著作論文

• 3p-D1-4 高速Bipolar transistorを用いたSi-microstrip用 VLSIの開発
• 31a-N-14 高速Bi-polar transistorのradiation damage(31a N 素粒子実験(測定器開発),素粒子実験)

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