1p-D-13 JTAGバウンダリースキャンによる回路テスト手法の研究

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1998-03-10

著者

• 池野 正弘

  KEK

• 池野 正弘

  高エ研

• 江村 恒夫

  農工大工

• 新井 康夫

  Kek

• 江村 恒夫

  東京農工大

• 水野 裕

  農工大工

• 田畑 貴庸

  農工大工

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