28pXU-4 64ピクセル・リニアアレイSi-APD検出器による放射光X線時間分解測定(28pXU 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(X線),ビーム物理領域)
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概要
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- 2013-03-26
著者
-
池野 正弘
高エ研
-
谷口 敬
KEK
-
島崎 昇一
KEK
-
谷口 敬
高工研
-
齊藤 正俊
KEK素核研
-
池野 正弘
KEK物構研、KEK素核研:Open-It
-
池野 正弘
KEK物構研:KEK素核研:Open-It
-
斉藤 正俊
KEK物構研:KEK素核研:Open-It
-
米村 博樹
Open-It
-
岸本 俊二
Open-It
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足立 伸一
Open-It
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島崎 昇一
KEK物構研、KEK素核研
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谷口 敬
KEK物構研、KEK素核研
-
田中 真伸
KEK物構研、KEK素核研
-
島崎 昇一
KEK物構研:KEK素核研:Open-It
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田中 真伸
KEK物構研:KEK素核研:Open-It
-
谷口 敬
KEK物構研:KEK素核研:Open-It
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