14p-DJ-7 Si(001)上のAl薄膜のSTM観察
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1993-09-20
著者
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上田 修
(株)富士通研究所
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上田 修
株)富士通研究所
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上田 修
富士通研究所・材料技術研究所
-
北田 秀樹
富士通研究所
-
清水 紀嘉
富士通研究所
-
北田 秀樹
東京大学大学院工学系研究科総合研究機構
-
北田 秀樹
東京大学大学院工学系研究化総合研究機構
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