川原 尚由 | Necエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部

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概要

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• 同名の論文著者
• Necエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部の論文著者

関連著者

• 関根 誠

  NECエレクトロニクス株式会社

• 角原 由美

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発部

• 川原 尚由

  NECエレクトロニクス(株)

• 角原 由美

  Necエレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部

• 川原 尚由

  Necエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部

• 泰地 稔二

  NECELプロセス技術事業部

• 小田 典明

  NECエレクトロニクス株式会社

• 横川 慎二

  ルネサスエレクトロニクス株式会社

• 藤井 邦宏

  NECエレクトロンデバイス先端デバイス開発本部(現)NECセミコンダクターズUK

• 大音 光市

  NECエレクトロンデバイス先端デバイス開発本部

• 大音 光市

  Necエレクトロニクス株式会社先端プロセス技術事業部

• 宇佐美 達矢

  NECエレクトロニクス(株)

• 黒川 哲也

  NECエレクトロニクス(株)

• 小田 典明

  Necエレクトロニクス(株)

• 本山 幸一

  NECエレクトロニクス(株)

• 井村 裕則

  Necエレクトロニクス(株)

• 有田 幸司

  Necエレクトロニクス

• 本山 幸一

  Necエレクトロニクス

• 宇佐美 達矢

  Necエレクトロニクス株式会社

• 横川 慎二

  NECエレクトロニクス

• 上野 和良

  Necエレクトロニクス(株)

• 鈴木 三惠子

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発部

• 土屋 秀昭

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発部

• 戸原 誠人

  NECエレクトロニクス株式会社プロセス技術部

• 藤井 邦宏

  Necエレクトロニクス株式会社プロセス技術部

• 田上 政由

  Necエレクトロニクス株式会社lsi基礎開発研究所

• 田上 政由

  日本電気(株)

• 國嶋 浩之

  NECエレクトロニクス(株)

• 曽祢 修次

  NECエレクトロニクス(株)

• 大西 貞之

  NECエレクトロニクス(株)

• 山田 健太

  NECエレクトロニクス(株)

• 林 善宏

  日本電気(株)

• 横川 慎二

  Necエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発部

• 横川 慎二

  Necエレクトロニクス株式会社

• 横川 慎二

  電気通信大学

• 菊田 邦子

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部

• 竹脇 利至

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部

• 鈴木 三恵子

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部

• 豊嶋 宏徳

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部

• 土屋 楽章

  NECエレクトロニクス株式会社先端プロセス技術事業部

• 泰地 稔二

  NECエレクトロニクス株式会社先端プロセス技術事業部

• 黒川 哲也

  Necエレクトロニクス株式会社先端テスト評価技術事業部

• 土屋 秀昭

  Necエレクトロニクス株式会社 先端デバイス開発部

• 泰地 稔二

  ルネサスエレクトロニクス生産本部

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著作論文

• 45nm CMOSアプリケーション毎の配線構造最適化のための設計コンセプト:ASIS(低誘電率層間膜,配線材料及び一般)
• 微細銅配線において車載信頼性を実現するための新抵抗率評価手法(配線・実装技術と関連材料技術)

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