谷村 吉久 | 計量研究所
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概要
関連著者
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谷村 吉久
計量研究所
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谷村 吉久
産業技術総合研究所
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黒澤 富蔵
計量研究所
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真下 寛治
群馬県工業試験場
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豊田 幸司
計量研究所
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権太 聡
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門長さ計測科幾何標準研究室
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藤沼 憲幾
計量研究所
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権太 聡
産業技術総合研究所
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初澤 毅
計量研究所
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権太 聡
計量研究所
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後藤 充夫
計量研究所
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高辻 利之
工業技術院計量研究所
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奈良 治郎
宇都宮大学
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黒沢 俊郎
東京精密(株)
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松田 次郎
計量研究所
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坂野 憲幾
計量研究所
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高辻 利之
計量研究所
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中村 哲也
群馬県工業試験場
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北林 秀也
群馬県工業試験場
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山本 健太郎
中央計量検定所
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山本 健太郎
精機学会
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奈良 治郎
計量研究所
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上野 嘉之
日本電信電話公社武蔵野電気通信研究所:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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近藤 一彦
(株)ニコン
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山本 晃
東京工芸大学
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黒沢 富蔵
計量研究所
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中野 健一
東京都立工業技術センター
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鴨下 隆志
計量研究所
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山本 健太郎
明示大学工学部
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江川 満
東京精密
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西山 稔
小坂研究所
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増田 稔
三豊製作所
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山本 善治
日産自動車
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新井 克
日立製作所
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津川 浩三
日本精工
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太箸 孝善
石川島播磨重工業
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小柳 武昭
工業技術院
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徳増 肇
日本機械工業連合会
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沢辺 雅二
計量研究所
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山本 晃
東京工業大学精密工学研究所
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江田 弘
宇都宮大学工学部
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矢野 宏
計量研究所
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吉本 勇
東京工業大学精密工学研究所
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江川 満
東京精密:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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吉本 勇
東京工業大学
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丸山 一男
東京工業大学精密工学研究所
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土井 琢磨
産業技術総合研究所
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近藤 一彦
(株)ニコン中央研究所
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桜井 好正
計量研究所
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藤本 洋久
(株)オリンパス光学工業
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奈良 誠
(株)ニコン中央研究所
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豊永 修司
(株)ニコン中央研究所
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原 信也
(株)ニコン中央研究所
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岩崎 裕隆
(株)ニコン中央研究所
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土井 琢磨
計量研究所
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久田 菜穂子
(株)オリンパス光学工業
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山岸 毅
(株)オリンパス光学工業
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湯川 浩
(株)オリンパス光学工業
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赤津 利雄
産業総合技術研究所
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増田 稔
三豊製作所:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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太田 和秀
東京工業大学大学院
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沢辺 雅二
工業技術院計量研究所
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小関 義彦
産業技術総合研究所人間福祉医工学研究部門
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小関 義彦
機械技術研究所
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加藤 敬
三豊製作所
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宮本 紘三
(株)小坂研究所
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佐久間 健司
(株)三豊製作所
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白石 堅司
計量研究所
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沢辺 雅二
(株)三豊製作所
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切田 篤
計量研究所
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直井 一也
計量研究所
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赤津 利雄
計量研究所
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YAHIA Hedi
National Engineering School Monastir
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中村 収
計量研究所
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黒澤 俊郎
東京精密(株)
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黒沢 俊郎
(株)東京精密
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中野 健一
東京都立工業技術センター:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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中村 収
計量研究所:(現)産業技術融合領域研究所
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原 信也
(株)ニコン
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谷村 吉久
独立行政法人 産業技術総合研究所
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徳増 肇
日本機械工業連合会:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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西山 稔
小坂研究所:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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新井 克
日立製作所:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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谷村 吉久
計量研究所力学部
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山本 善治
日産自動車:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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小柳 武昭
工業技術院:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
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津川 浩三
日本精工:表面粗さの表示方式の標準化に関する調査委員会
著作論文
- 新しい表面粗さの表示方式に関する調査研究
- 集積型マイクロ干渉計と走査型電子顕微鏡を用いた微小線幅の精密測定
- 三次元測長型AFMによる形状パラメータの測定と不確かさ
- 原点対称形の一体型三次元微動機構 (第1報)-設計・試作-
- レーザ干渉ねじリード測定機の実用化
- LSI用マスクパターンの線幅測定 : 国内での持回り測定結果について
- 円筒領域モデルによる2次電子エッジ信号の推定
- 超精密計測へのハードル(期待される技術とその課題)( 激変する国際環境と精密工学)
- ホログラフィ干渉で検出されたねじとラックのピッチ信号
- 最近のねじの測定
- 1μm以下における触針式表面粗さ測定機の縦倍率の校正
- レーザ三辺測量における干渉計の配置と測定誤差に関する考察
- 自己キャリブレーションを用いたレーザトラッキングによる三次元座標測定
- 測長用マイケルソン干渉計の光路差変化と4つの数学的機能
- 表面粗さ測定における不確かさ(第1報) : 要因と見積もり
- 2P1-34-042 真直度測定における計測の不確かさ : 撓み問題
- 寸法・幾何計測の研究課題
- 円筒母線の実直度測定における不確かさ(第1報)-要因の理論的考察と見積もり-
- 原点対称形の一体型三次元微動機構(第2報)-特性評価-
- 表面粗さ測定における不確かさの評価 -APMPの国際比較測定-
- 計測における複雑さと精密さ(複雑さと精密さの接点)
- 3次元自由曲面形状の光非接触測定装置(第3報) : 低分解能光学系による対象位置の検出範囲拡大
- 偏光を用いた非接触位置検出プローブ
- 偏光を用いた三角測量法による3次元自由曲面の非接触測定
- 3次元自由曲面形状の光非接触測定装置(第2報) : 光検出器の受光領域の工夫と検出特性の改善
- 追尾式レーザ干渉計による座標計測システム
- 光ファイバと結合した小型レーザ干渉計
- レーザ干渉計を応用した非接触微細形状測定装置
- ホログラフィ干渉で検出されたねじとラックのピッチ信号(続報) : ラックの歯面と実際のピッチ測定
- 3次元自由曲面形状の光非接触測定装置
- 角度アライメントの3成分が測れるオートコリメータ用反射装置
- 表面欠陥の規格化に関するISOの動向(表面欠陥検査の現状と問題点)
- 昭和60年度秋季大会学術講演会に見る「計測, 機素, 機構」関連研究の動向
- レーザ干渉計で測長する場合の誤差要因
- 表面粗さの規格