谷村 吉久 | 産業技術総合研究所
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概要
関連著者
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谷村 吉久
産業技術総合研究所
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谷村 吉久
計量研究所
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黒澤 富蔵
計量研究所
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権太 聡
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門長さ計測科幾何標準研究室
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権太 聡
産業技術総合研究所
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真下 寛治
群馬県工業試験場
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権太 聡
計量研究所
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後藤 充夫
計量研究所
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坂野 憲幾
計量研究所
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高辻 利之
工業技術院計量研究所
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松田 次郎
計量研究所
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高辻 利之
計量研究所
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中村 哲也
群馬県工業試験場
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黒澤 富蔵
産業技術総合研究所
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高増 潔
東京大学大学院工学系研究科
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近藤 一彦
(株)ニコン
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三隅 伊知子
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門長さ計測科幾何標準研究室
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権太 聡
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 長さ計測科 幾何標準研究室
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三隅 伊知子
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 長さ計測科 幾何標準研究室
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黒沢 富蔵
計量研究所
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高増 潔
東京大学大学院
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谷村 吉久
工業技術院計量研究所
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三隅 伊知子
産業技術総合研究所
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土井 琢磨
産業技術総合研究所
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近藤 一彦
(株)ニコン中央研究所
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藤本 洋久
(株)オリンパス光学工業
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初澤 毅
計量研究所
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豊田 幸司
計量研究所
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奈良 誠
(株)ニコン中央研究所
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豊永 修司
(株)ニコン中央研究所
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原 信也
(株)ニコン中央研究所
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岩崎 裕隆
(株)ニコン中央研究所
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土井 琢磨
計量研究所
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久田 菜穂子
(株)オリンパス光学工業
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山岸 毅
(株)オリンパス光学工業
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湯川 浩
(株)オリンパス光学工業
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赤津 利雄
産業総合技術研究所
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小関 義彦
産業技術総合研究所人間福祉医工学研究部門
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小関 義彦
機械技術研究所
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宮本 紘三
(株)小坂研究所
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山田 満彦
(株)日立サイエンスシステムズ
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山田 満彦
日立サイエンスシステムズ
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落合 直人
日本品質保証機構
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橘田 淳一郎
日本品質保証機構
-
窪田 文朗
日本品質保証機構
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藤原 喜延
日立サイエンスシステムズ
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中山 義則
日立製作所中央研究所
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切田 篤
計量研究所
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後藤 充夫
工業技術院計量研究所
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直井 一也
計量研究所
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赤津 利雄
計量研究所
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YAHIA Hedi
National Engineering School Monastir
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豊田 幸司
工業技術院 計量研究所
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北林 秀也
群馬県工業試験場
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原 信也
(株)ニコン
著作論文
- 集積型マイクロ干渉計と走査型電子顕微鏡を用いた微小線幅の精密測定
- 三次元測長型AFMによる形状パラメータの測定と不確かさ
- 原点対称形の一体型三次元微動機構 (第1報)-設計・試作-
- 一次元グレーティングの持ち回り比較測定・光回析法,測長SEM及び測長AFMを用いて
- レーザ三辺測量における干渉計の配置と測定誤差に関する考察
- 自己キャリブレーションを用いたレーザトラッキングによる三次元座標測定
- 測長用マイケルソン干渉計の光路差変化と4つの数学的機能
- 表面粗さ測定における不確かさ(第1報) : 要因と見積もり
- 2P1-34-042 真直度測定における計測の不確かさ : 撓み問題
- 寸法・幾何計測の研究課題
- 円筒母線の実直度測定における不確かさ(第1報)-要因の理論的考察と見積もり-
- 原点対称形の一体型三次元微動機構(第2報)-特性評価-
- 微細パタ-ン測定用微動走査機構の運動特性
- 表面粗さ測定における不確かさの評価 -APMPの国際比較測定-
- 計測における複雑さと精密さ(複雑さと精密さの接点)
- 3次元自由曲面形状の光非接触測定装置(第3報) : 低分解能光学系による対象位置の検出範囲拡大
- 偏光を用いた非接触位置検出プローブ
- レーザトラッキングによる移動体計測
- 偏光を用いた三角測量法による3次元自由曲面の非接触測定
- 3次元自由曲面形状の光非接触測定装置(第2報) : 光検出器の受光領域の工夫と検出特性の改善
- 計量標準の供給制度を取り巻く現状
- 計測分野に見る技術開発の連鎖 : レーザ干渉追尾式座標計測システムを例として