黒澤 富蔵 | 産業技術総合研究所
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概要
関連著者
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黒澤 富蔵
産業技術総合研究所
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高辻 利之
産総研
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黒沢 富蔵
計量研究所
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黒澤 富蔵
計量研究所
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高辻 利之
産業技術総合研
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大澤 尊光
産業技術総合研究所
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大澤 尊光
ドイツ国立物理工学研
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臼田 孝
産業技術総合研究所
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臼田 孝
産業技術総合研究所 計量標準総合センター
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臼田 孝
計量研究所
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黒澤 富蔵
(財)日本品質保証機構計量計測部門
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権太 聡
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門長さ計測科幾何標準研究室
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権太 聡
産業技術総合研究所
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野口 宏徳
産総研
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大苗 敦
計量研
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古谷 涼秋
東京電機大学
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権太 聡
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 長さ計測科 幾何標準研究室
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黒澤 富蔵
産総研
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桜井 慧雄
計量研究所
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高辻 利之
計量研究所
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大澤 尊光
計量研究所
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直井 一也
産総研
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古谷 涼秋
東京電機大学工学部
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三隅 伊知子
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門長さ計測科幾何標準研究室
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大澤 尊光
産総研
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三木 幸信
計量研究所
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作間 英一
計量研究所
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三木 幸信
計量研
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梅津 健太
東京電機大学大学院
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高増 潔
東京大学大学院
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今澤 宣幸
(株)浅沼技研
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Dobosz Marek
ワルシャワ工科大学
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Dobosz Marek
ワルシャワ工科大
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植木 伸明
富士写真光機(株)光学機器部
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作間 英一
計量研究所量子部量子標準研究室時間・周波数研究グループ
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植木 伸明
富士写真光機
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大見 忠弘
東北大学未来科学技術共同研究センター
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大見 忠弘
東北大
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高増 潔
東京大学大学院工学系研究科
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大苗 敦
計量研究所
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三隅 伊知子
産業技術総合研究所 計測標準研究部門 長さ計測科 幾何標準研究室
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三隅 伊知子
産業技術総合研究所
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小島 勇夫
産業技術総合研究所
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小島 勇夫
産総研 計測標準部門
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櫻井 稔久
東北大
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東 康史
産業技術総合研究所
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櫻井 稔久
東北大学未来科学技術研究センター
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藤本 俊幸
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門
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藤本 俊幸
産総研 計測標準部門
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東 康史
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門
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佐藤 浩志
産業技術総合研究所
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直井 一也
産業技術総合研究所
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赤津 利雄
産業総合技術研究所
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佐藤 浩志
産業技術総合研
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三隈 伊知子
産業技術総合研究所
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直井 一也
産業技術総合研
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日比野 謙一
産業技術総合研究所
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大見 忠弘
東北大学未来科学技術研究センター
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上田 和永
産業技術総合研究所 計測標準総合センター
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上田 和永
工業技術院計量研究所
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上田 和永
産業技術総合研究所
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大田 明博
産業技術総合研究所
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中野 英俊
産業技術総合研究所
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臼田 孝
産業技術総合研 計測標準研究部門
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高辻 利之
産業技術総合研究所
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中川 賢一
東京工芸大
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石田 興太郎
東理大理工
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石田 興太郎
東理大・理
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石田 興太郎
理科大
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高増 潔
東大工
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近藤 余範
東工大
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川手 悦男
計量研
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川手 悦男
計量研究所
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岡路 正博
計量研究所
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野口 昭治
東京理科大学理工学部機械工学科
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近藤 孝之
産業技術総合研究所
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依田 潤
計量研
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三隅 伊知子
産総研
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権太 聡
産総研
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東 康史
産総研
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藤本 俊幸
産総研
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藤本 俊幸
産業技術総合研究所
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東 康史
産総研 計測標準部門
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小島 勇夫
産業技術総合研 計測標準研究部門
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櫻井 稔久
東北大学工学部電子工学科
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豊田 幸司
計量研究所
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野口 宏徳
産業技術総合研究所
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近藤 余範
東京理科大学大学院理工学研究科
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赤津 利雄
産業技術総合研究所
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直井 一也
産業総合技術研究所
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佐藤 浩志
産業総合技術研究所
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黒澤 富蔵
産業総合技術研究所
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依田 潤
計量研究所
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Dobosz M
ワルシャワ工科大学
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山田 満彦
(株)日立サイエンスシステムズ
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山田 満彦
日立サイエンスシステムズ
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谷村 吉久
産業技術総合研究所
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落合 直人
日本品質保証機構
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橘田 淳一郎
日本品質保証機構
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窪田 文朗
日本品質保証機構
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藤原 喜延
日立サイエンスシステムズ
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中山 義則
日立製作所中央研究所
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柴田 政典
(株)浅沼技研
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小島 勇夫
産総研
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中野 英俊
(独)産業技術総合研究所計量標準総合センター
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野口 昭治
東京理科大学 理工学部機械工学科
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後藤 信介
(株)ONC
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日比野 謙一
機械技術研究所
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HONG Jiang
Excel Precision Co.
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野口 宏徳
計量研究所
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高増 潔
東大
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上田 和永
産業技術総合研
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高辻 利之
(独)産業技術総合研究所
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野口 昭治
東京理科大学
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大見 忠弘
東北大学未来科学共同センター
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柴田 政典
(株) 浅沼技研
著作論文
- 振動加速度計の校正における電荷増幅器の影響
- 30p-TC-5 酸化物超伝導体の遠赤外レーザ光吸収の波長依存性
- 座標測定機校正における測定戦略の最適化
- 校正された器物による三次元測定の不確かさ算出
- レーザトラッキングシステムを用いたCMMの校正
- 2806 測長 AFM を用いたナノ薄膜マイクロパターンの膜厚精密測定
- 測長AFMを用いたマイクロパターン薄膜の厚さ精密測定
- 高精度ステップゲージ測定機の性能評価(1)
- ボールアーティファクトによる歯形測定精度の評価 : 国家標準にトレーサブルなボール中心間距離測定装置の開発
- 触針式表面粗さ測定機を用いた段差測定における不確かさ評価
- シミュレーションを用いた表面粗さ計測おける不確かさ評価
- 31p-S-6 アセチレン分子のν_1+ν_2 振動バンドの飽和吸収分光
- 27a-R-6 非回折性CO_2レーザービーム
- ディメンジョンナル・ナノ・メトロロジーの世界動向と日本の戦略
- ナノメトロロジーの標準と国際比較(ナノメートルを測る技術)
- 光周波数逓倍混合器としてのM-I-M点接触ダイオ-ドの製作法
- ファブリ・ペロ-干渉計を用いたレ-ザの周波数ゆらぎの測定
- 沃素の飽和吸収を用いたHe-Neレ-ザの周波数安定化-1-
- 一次元グレーティングの持ち回り比較測定・光回析法,測長SEM及び測長AFMを用いて
- インターネットを利用した座標測定機のトレーサビリティ体系構築
- 市販振動加速度ピックアップの位相特性
- 2自由度系静電気駆動型ねじり振動子(第5報:振動・加速度センサ応用への試み)
- 振動加速度ピックアップ校正用レーザ干渉計の開発
- 正弦波近似法による振動ピックアップ感度の校正と不確かさの評価および現行法との比較
- 2自由度系静電駆動型ねじり振動子(第4報 : 固有振動数可変化の試み)
- 計数法による振動ピックアップ校正における計数誤差の除去
- 正弦波近似法による加速度ピックアップの校正と不確かさに関する考察
- ナノメトロロジカルAFMを用いた一次元グレーディングの校正 : (第2報)測定の不確かさ
- ナノメトロロジカルAFMを用いた一次元グレーティングの校正 : (第1報)校正手順
- 光周波数計測によるリュードベリ定数の決定
- 大口径平面度干渉計によるウェファー用チャックの平面度測定
- 大口径平面度干渉計の2国間比較
- 大口径平面度干渉計の製作
- 波長標準とその精密計測への応用
- ステップゲージ校正用干渉式三次元測定機の開発
- 2次元幾何ゲージの校正とその不確かさ
- 高精度ステップゲージ測定機のプロービングと環境評価
- 首振り式レーザトラッカによる座標測定
- 高精度ステップゲージ測定機の開発
- 幾何学ゲージ持ち回り比較の問題 : ボールプレート2国間国際比較を通して
- 幾何学ゲージ持ち回り比較の問題
- 干渉測定による一次元ボールプレートの値付け
- Traceability System of Coordinate Measuring Machines Through Internet