小島 勇夫 | 産業技術総合研 計測標準研究部門

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概要

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関連著者

• 小島 勇夫

  産業技術総合研 計測標準研究部門

• 小島 勇夫

  産総研 計測標準部門

• 小島 勇夫

  産業技術総合研究所

• 藤本 俊幸

  産業技術総合研究所

• 藤本 俊幸

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 藤本 俊幸

  産総研 計測標準部門

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 黒澤 富蔵

  産業技術総合研究所

• 大見 忠弘

  東北大

• 高増 潔

  東京大学大学院工学系研究科

• 権太 聡

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門長さ計測科幾何標準研究室

• 三隅 伊知子

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門長さ計測科幾何標準研究室

• 権太 聡

  産業技術総合研究所 計測標準研究部門 長さ計測科 幾何標準研究室

• 三隅 伊知子

  産業技術総合研究所 計測標準研究部門 長さ計測科 幾何標準研究室

• 高増 潔

  東京大学大学院

• 三隅 伊知子

  産業技術総合研究所

• 櫻井 稔久

  東北大

• 東 康史

  産業技術総合研究所

• 櫻井 稔久

  東北大学未来科学技術研究センター

• 東 康史

  産総研 計測標準部門

• 東 康史

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 黒澤 富蔵

  (財)日本品質保証機構計量計測部門

• 権太 聡

  産業技術総合研究所

• 寺内 信哉

  産業技術総合研究所

• 梅原 博行

  産総研 計測標準研究部門

• 寺内 信哉

  産総研 計測標準研究部門

• 小島 勇夫

  産総研 計測標準研究部門

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学共同センター

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学技術研究センター

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著作論文

• 薄膜の精密調製と構造解析(ナノメートルを測る技術)
• 測長AFMを用いたマイクロパターン薄膜の厚さ精密測定
• ナノテクノロジーのための計量標準の開発 (特集 計量標準100周年記念 計量の1世紀を振り返って)
• EPMA用標準物質の開発

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