プログラム可能な素子を利用した大規模回路の自動修復手法
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概要
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現在、回路製造後のバグや仕様変更への対応として,プログラム可能な素子としてルックアップテーブル(LUT)を導入した回路が提案されている。回路の一部のゲートをLUTに置換し,正しい回路と等価になるようなLUTの真理値表を見つけることで,回路製造後のバグや仕様変更に対応できることがある。LUTの真理値表を求めるのに非常に時間がかかってしまう為,大規模回路への応用が困難であるという問題がある。近年CEGARに基づきSAT問題を繰り返し解くことでQBF問題を高速に解く手法が提案された。本稿では,その手法を応用することでLUTの真理値表を高速に求める手法を提案する。提案手法を用いた実験では,通常のQBFソルバを用いるよりも高速にLUTの真理値表を求めることができた。
- 2013-05-09
著者
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藤田 昌宏
富士通研究所人工知能研究部
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藤田 昌宏
東京大学大学院工学系研究科電子工学
-
松本 剛史
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
藤田 昌宏
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター:科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業crest
-
藤田 昌宏
埼玉大学大学院理工学研究科
-
藤田 昌宏
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
藤田 昌宏
国立札幌病院
-
藤田 昌宏
富士通研
-
藤田 昌宏
東京大学、大規模集積システム設計教育研究センター
-
藤田 昌宏
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター|科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業crest
-
城 怜史
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
藤田 昌宏
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(VDEC):科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業CREST
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