C-12-22 65nmプロセスによる耐ソフトエラーFFの性能比較評価(デジタル集積回路,C-12.集積回路,一般セッション)

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概要

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• 2011-08-30

著者

• 小林 和淑

  京都工芸繊維大学

• 山本 亮輔

  京都工芸繊維大学

• 久保田 勘人

  京都工芸繊維大学

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