C-4-5 数値解析によるトンネル注入SOAの利得飽和特性の評価(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 2011-08-30
著者
-
宮本 智之
東京工業大学 精密工学研究所 マイクロシステム研究センター
-
宮本 智之
東京工業大学
-
反町 幹夫
東京工業大学 マイクロシステム研究センター
-
比嘉 康貴
東京工業大学 マイクロシステム研究センター
-
西野目 卓弥
東京工業大学精密工学研究所フォトニクス集積システム研究センター
-
岩崎 創
東京工業大学精密工学研究所
-
岩崎 創
東京工業大学精密工学研究所フォトニクス集積システム研究センター
-
西野目 卓弥
東京工業大学 精密工学研究所
-
反町 幹夫
東京工業大学 精密工学研究所
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