C-12-31 低電源電圧領域におけるチップ内遅延時間ばらつきの測定(C-12.集積回路,一般セッション)

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概要

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• 2011-02-28

著者

• 高宮 真

  東京大学

• 桜井 貴康

  東京大学

• 桜井 貴康

  東京大学生産技術研究所

• 高宮 真

  東京大学生産技術研究所

• 中村 安見

  東京大学国際・産学共同研究センター

• 中村 安見

  東京大学国際産学共同研究究センタ

• 安福 正

  東京大学

• 桜井 貴康

  東大

• 桜井 貴康

  東京大学工学系研究科生産技術研究所

• 朴 哲

  東京大学

• 中村 安見

  東京大学

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