差動構成VCOにおけるデジタル・クロストーク雑音の評価(イメージセンサのインターフェース回路,アナログ,及び一般)
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概要
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CMOS集積回路の高速化に伴い,RF回路と論理回路を混載したシステムオンチップ(RF-SOC)が無線システムや高速ネットワークのキーデバイスになっている.RF-SOCを実現するためには,高精度,高品質な発振出力が得られる発振回路を大規模なディジタル回路にオンチップ化することが要求される.本報告では発振回路として差動制御入力型LC-VCO,基準となる単相制御入力型VCO,雑音源となるCMOS論理回路,および基板雑音検出回路を同チップ上に搭載した0.25um CMOSテストチップを設計・試作した.試作したテストチップを用いてVCO発振出力と基板雑音と同時に測定して,クロストーク雑音の影響を調べた.その結果,差動制御型VCOが低周波雑音に対する耐性が高いという結果を得た.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-07-20
著者
-
岩田 穆
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
村坂 佳隆
株式会社エイアールテック
-
大本 貴文
(株)エイアールテック
-
外谷 昭洋
広島大学
-
村坂 佳隆
(株)エイアールテック
-
岩田 穆
広島大学
-
村坂 佳隆
エイアールテック
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