2-10 分光特性に基づくCCDイメージセンサにおけるスミアの解析
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概要
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We have analyzed smear in CCD image sensors based on spectral response measurement using test devices with size-reduced apertures, which are formed at peripheral regions of photodiodes. As a result, the dominant generation mechanism seems to be multi-reflection and diffusion when the aperture is located near channel-stop and transfer-gate, respectively.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1997-07-29
著者
-
小川 智弘
Nec Ulsiデバイス開発研究所
-
村上 一郎
Nec Ulsiデバイス開発研究所
-
畑野 啓介
日本電気株式会社NECエレクトロンデバイスシステムLSI事業本部システムLSI設計技術本部
-
寺西 信一
NECシリコンシステム研究所
-
武藤 信彦
松下電子工業株式会社ccd事業部
-
武藤 信彦
パナソニック株式会社 セミコンダクター社
-
織原 弘三
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
-
森本 倫弘
NECシステムマイクロ事業部
-
村上 一朗
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
佐藤 高
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
小川 智弘
日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所
-
畑野 啓介
日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所
-
森本 倫弘
日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所
-
武藤 信彦
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
織原 弘三
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
寺西 信一
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
佐藤 高
マイクロエレクトロニクス研究所
-
武藤 信彦
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所
-
織原 弘三
日本電気(株)
-
寺西 信一
松下電子工業株式会社ccd事業部
-
寺西 信一
松下電子工業
-
武藤 信彦
松下電子工業
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