29-5 CCD出力アンプのS/N向上に関する検討
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概要
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We proposed optimization method for SN ratio improvement in CCD output amplifier, considering reset noise, thermal noise, and 1/f noise. As the result of calculating SN ratio dependence on the driver transistor dimensions for the first stage amplifier, we found that shorter gate length and optimal gate width give maximum SN ratio. We also found that reset noise reduction ratio in external circuit strongly influences on the optimal gate width.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1994-07-26
著者
-
中野 隆
Nec シリコンシステム研究所
-
寺西 信一
NECシリコンシステム研究所
-
武藤 信彦
松下電子工業株式会社ccd事業部
-
武藤 信彦
パナソニック株式会社 セミコンダクター社
-
寺西 信一
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
寺西 信一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
中野 隆
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
武藤 信彦
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
武藤 信彦
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所
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寺西 信一
松下電子工業株式会社ccd事業部
-
寺西 信一
松下電子工業
-
武藤 信彦
松下電子工業
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