1024×1024画素プログレッシブスキャンCCDイメージセンサ
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概要
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A IM-pixel progressive-scan interline-transfer CCD (IT-CCD) image sensor has been developed. The number of effective pixels is 1024 (H)×1024 (V) and its unit-pixel size is 10μm square. The device has two H-CCDs, located at the upper and lower of the image area. In the device, progressive scanning provides a 1024×1024 resolution image at 30 frame/sec. The device also can be operated in a 512×512 progressive scan at 60 frame/sec by combining the charges in each of two by two pixels. Furthermore, the device can perform a 1024×1024 interlace scan at 60 field/sec. The two H-CCD structure makes it possible to obtain a upside-down image without image processing. The variety of operation modes are attractive for many kinds of industrial, medical and scientific applications.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1997-03-14
著者
-
新井 浩一
Necマイクロエレクトロニクス研究所
-
加藤 聰
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
-
畑野 啓介
日本電気株式会社NECエレクトロンデバイスシステムLSI事業本部システムLSI設計技術本部
-
畑野 啓介
ULSIデバイス開発研究所
-
中柴 康隆
ULSIデバイス開発研究所
-
寺西 信一
NECシリコンシステム研究所
-
河合 真一
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
-
織原 弘三
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
-
生子 大介
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
-
森本 倫弘
NECシステムマイクロ事業部
-
諏訪園 忍
NECシステムマイクロ事業部
-
谷治 行夫
NECシステムマイクロ事業部
-
穂苅 泰明
NEC ULSIデバイス開発研究所
-
寺西 信一
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
森本 倫弘
ULSIデバイス開発研究所
-
谷治 行夫
システムマイクロ事業部
-
穂苅 泰明
ULSIデバイス開発研究所
-
河合 真一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
諏訪園 忍
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
二村 文章
システムマイクロ事業部
-
生子 大介
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
加藤 聰
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
竹内 映一
システムマイクロ事業部
-
川村 智浩
システムマイクロ事業部
-
織原 弘三
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
寺西 信一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
竹内 映一
日本電気株式会社
-
加藤 聡
Nec
-
寺西 信一
松下電子工業株式会社ccd事業部
-
中柴 康隆
Nec 先端デバイス開発本部
-
寺西 信一
松下電子工業
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