寺西 信一 | NECマイクロエレクトロニクス研究所
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概要
関連著者
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寺西 信一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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寺西 信一
松下電子工業株式会社ccd事業部
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寺西 信一
松下電子工業
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寺西 信一
NECシリコンシステム研究所
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寺西 信一
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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寺西 信一
Nec
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織原 弘三
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
-
諏訪園 忍
NECシステムマイクロ事業部
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穂苅 泰明
NEC ULSIデバイス開発研究所
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畑野 啓介
日本電気株式会社NECエレクトロンデバイスシステムLSI事業本部システムLSI設計技術本部
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森本 倫弘
NECシステムマイクロ事業部
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内海 浩昭
NECシリコンシステム研究所
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冨留宮 正之
日本電気株式会社
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武藤 信彦
松下電子工業株式会社ccd事業部
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武藤 信彦
パナソニック株式会社 セミコンダクター社
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森本 倫弘
NECULSIデバイス開発研究所
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武藤 信彦
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所
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武藤 信彦
松下電子工業
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村上 一郎
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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新井 浩一
Necマイクロエレクトロニクス研究所
-
河合 真一
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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織原 弘三
NECシリコンシステム研究所
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諏訪 園忍
NEC
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織原 弘三
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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川上 幸也
Nec シリコンシステム研究所
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中野 隆
Nec シリコンシステム研究所
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畑野 啓介
NEC ULSIデバイス開発研究所
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遠山 茂
Necマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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小沼 和夫
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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増渕 浩一
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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東 博美
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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増渕 浩一
日本電気株式会社r&dサポートセンター
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東 博美
Necマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部:(現)nec企画室
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東 博美
Necマイクロエレクトロニクス研究所
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内海 浩昭
Nec シリコンシステム研究所
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新井 浩一
NECシステムデバイス研究所
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小川 智弘
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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加藤 聰
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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遠藤 勉
Necシリコンシステム研究所
-
武藤 信彦
Necシリコンシステム研究所
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冨留宮 正之
NEC ULSIデバイス開発研究所
-
川上 幸也
NECシリコンシステム研究所
-
河合 真一
NECシリコンシステム研究所
-
諏訪園 忍
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
織原 弘三
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
武藤 信彦
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
-
内海 浩昭
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
-
新井 浩一
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
-
武藤 信彦
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
加藤 聡
Nec
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浅野 義堂
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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内海 浩昭
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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冨留宮 正之
Nec
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浅野 義堂
Necマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部:(現)日本アビオニクス
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新井 浩一
Nec シリコンシステム研究所
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武藤 信彦
NEC シリコンシステム研究所
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生子 大介
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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加藤 聰
NECシリコンシステム研究所
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河合 真一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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二村 文章
システムマイクロ事業部
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竹内 映一
システムマイクロ事業部
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村上 一朗
NEC
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南 数馬
日本電気株式会社
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竹内 映一
日本電気株式会社
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冨留宮 正之
NECULSIデバイス開発研究所
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畑野 啓介
NECULSIデバイス開発研究所
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穂苅 泰明
NECULSIデバイス開発研究所
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川上 幸也
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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中野 隆
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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村上 一朗
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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遠藤 勉
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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中柴 康隆
Nec 先端デバイス開発本部
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小沼 和夫
Nec シリコンシステム研
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河野 明啓
NEC システムマイクロ事業部
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野中 聡
旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座
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野中 源一郎
九州大学薬学部
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田村 貴央
NECELプロセス技術事業部
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畑野 啓介
ULSIデバイス開発研究所
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中柴 康隆
ULSIデバイス開発研究所
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田中 敬訓
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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中柴 康隆
NEC ULSIデバイス開発研究所
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田辺 顕人
NECシリコンシステム研究所
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生子 大介
NECシリコンシステム研究所
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谷治 行夫
NECシステムマイクロ事業部
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二村 文章
NEC
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森本 倫弘
ULSIデバイス開発研究所
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佐藤 高
マイクロエレクトロニクス研究所
-
谷治 行夫
システムマイクロ事業部
-
穂苅 泰明
ULSIデバイス開発研究所
-
生子 大介
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
加藤 聰
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
川村 智浩
システムマイクロ事業部
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河野 明啓
NEC
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佐藤 高
NEC
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冨留 宮正之
NEC
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南 数馬
NEC
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田邊 顕人
NEC
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田中 敬訓
NEC
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浦山 洋治
NEC
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竹内 映一
NEC
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南 数馬
NECULSIデバイス開発研究所
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河野 明啓
NECシステムマイクロ事業部
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田村 貴央
NEC Corporation
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後藤 英樹
Nec
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土川 稔
NEC
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浦山 洋治
NECシリコンシステム研究所
-
高野 英二
NEC
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山片 茂樹
NEC
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佐原 宏和
NEC
-
村松 俊夫
NEC
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関 孝彦
NEC
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小野 武
NEC
-
田辺 顕人
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
-
小川 智弘
NECULSIデバイス開発研究所
著作論文
- 8)2/3インチ130万画素IT-CCDイメージセンサ(〔情報入力研究会 コンシューマエレクトロニクス研究会〕合同)
- 6)1024×1024画素プログレッシブスキャンCCDイメージセンサ(〔情報入力研究会 コンシューマエレクトロニクス研究会〕合同)
- 1024×1024画素プログレッシブスキャンCCDイメージセンサ
- 4)IT-CCDイメージセンサにおける光学的なセル縮小限界(情報入力研究会コンシューマエレクトロニクス研究会合同)
- 1)新フォトダイオード構造を用いた低スミア・高感度200万画素IT-CCD(〔情報入力研究会 コンシューマエレクトロニクス研究会〕 合同)
- 1)2/3インチ200万画素IT-CCDイメージセンサ([情報入力研究会コンシューマエレクトロニクス研究会]合同)
- 17-6 高感度1/4インチ25万画素CCD撮像素子
- 2波長赤外線イメージセンサによる遠隔真温度測定(固体撮像とその関連技術)
- 4)真温度分布撮像のための2波長赤外イメージセンサの開発(情報入力研究会)
- 真温度分布撮像のための2波長赤外イメージセンサの開発
- 29-5 CCD出力アンプのS/N向上に関する検討
- 3)新配線小型ショットキバリアIR-CCDイメージセンサ(情報入力研究会)
- 1)IEDM報告 : イメージセンサの開発動向(情報入力研究会)
- SOLID-STATE SCIENCE AND TECHNOLOGY LIBRARYシリーズ, "Solid-State Imaging with Charge-Coupled Devices", Albert J.P.Theuwissenn著, Kluwer Academic Publishers刊(1995年発行), 388頁, 定価US$192.00,Fax +31-78-524474
- 1995 IEEE CCD Workshop参加報告
- 新フォトダイオード構造を用いた低スミア・高感度200万画素IT-CCD