川上 幸也 | NECシリコンシステム研究所
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概要
関連著者
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織原 弘三
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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川上 幸也
NECシリコンシステム研究所
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織原 弘三
NECシリコンシステム研究所
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川上 幸也
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Nec シリコンシステム研究所
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NECシリコンシステム研究所
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NEC ULSIデバイス開発研究所
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武藤 信彦
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NEC ULSIデバイス開発研究所
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NEC
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寺西 信一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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武藤 信彦
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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森本 倫弘
NECULSIデバイス開発研究所
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寺西 信一
Nec
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冨留宮 正之
Nec
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Nec 先端デバイス開発本部
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武藤 信彦
NEC シリコンシステム研究所
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NECシステムデバイス研究所
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Nec Ulsiデバイス開発研究所
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新井 浩一
Necマイクロエレクトロニクス研究所
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日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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河合 真一
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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打矢 聡
NECシステムマイクロ事業部
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河合 真一
NECシリコンシステム研究所
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内海 浩昭
NECシリコンシステム研究所
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加藤 聰
NECシリコンシステム研究所
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河野 明啓
NEC
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新井 浩一
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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加藤 聡
Nec
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新井 浩一
Nec シリコンシステム研究所
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河野 明啓
NEC システムマイクロ事業部
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野中 聡
旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座
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野中 源一郎
九州大学薬学部
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小川 智弘
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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生子 大介
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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田中 敬訓
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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山田 徹
NECシリコンシステム研究所
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田辺 顕人
NECシリコンシステム研究所
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中野 隆
NECシリコンシステム研究所
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生子 大介
NECシリコンシステム研究所
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谷治 行夫
NECシステムマイクロ事業部
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二村 文章
NEC
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二村 文章
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竹内 映一
システムマイクロ事業部
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川村 智浩
システムマイクロ事業部
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村上 真一
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川村 智浩
NEC
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天白 竜一
NEC
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谷沿 行夫
NEC
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擢澤 雄治
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NEC
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村上 一朗
NEC
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村上 真一
日本電気株式会社
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天白 竜一
日本電気株式会社
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織田 英嗣
日本電気株式会社
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内海 浩昭
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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南 数馬
NEC
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田邊 顕人
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田中 敬訓
NEC
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浦山 洋治
NEC
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日本電気株式会社
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竹内 映一
日本電気株式会社
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山田 徹
Nec シリコンシステム研究所
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NECシリコンシステム研究所
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田辺 顕人
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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内海 浩昭
Nec シリコンシステム研究所
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打矢 聡
NEC システムマイクロ事業部
著作論文
- 1/2インチ130万画素プログレッシブスキャンIT-CCDイメージセンサ
- 8)2/3インチ130万画素IT-CCDイメージセンサ(〔情報入力研究会 コンシューマエレクトロニクス研究会〕合同)
- 9)2/3インチ76万画素CCDイメージセンサ(情報入力研究会コンシューマエレクトロニクス研究会合同)
- 1)新フォトダイオード構造を用いた低スミア・高感度200万画素IT-CCD(〔情報入力研究会 コンシューマエレクトロニクス研究会〕 合同)
- 1)2/3インチ200万画素IT-CCDイメージセンサ([情報入力研究会コンシューマエレクトロニクス研究会]合同)