村上 一朗 | NEC
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概要
関連著者
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新井 浩一
NECシステムデバイス研究所
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小川 智弘
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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村上 一郎
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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新井 浩一
Necマイクロエレクトロニクス研究所
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冨留宮 正之
日本電気株式会社
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畑野 啓介
日本電気株式会社NECエレクトロンデバイスシステムLSI事業本部システムLSI設計技術本部
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寺西 信一
NECシリコンシステム研究所
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武藤 信彦
松下電子工業株式会社ccd事業部
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武藤 信彦
パナソニック株式会社 セミコンダクター社
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武藤 信彦
Necシリコンシステム研究所
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織原 弘三
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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畑野 啓介
NEC ULSIデバイス開発研究所
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森本 倫弘
NECシステムマイクロ事業部
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諏訪園 忍
NECシステムマイクロ事業部
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内海 浩昭
NECシリコンシステム研究所
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織原 弘三
NECシリコンシステム研究所
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穂苅 泰明
NEC ULSIデバイス開発研究所
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諏訪 園忍
NEC
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寺西 信一
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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寺西 信一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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村上 一朗
NEC
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武藤 信彦
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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内海 浩昭
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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新井 浩一
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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織原 弘三
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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森本 倫弘
NECULSIデバイス開発研究所
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武藤 信彦
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所
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寺西 信一
Nec
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寺西 信一
松下電子工業株式会社ccd事業部
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寺西 信一
松下電子工業
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武藤 信彦
松下電子工業
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内海 浩昭
Nec シリコンシステム研究所
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新井 浩一
Nec シリコンシステム研究所
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武藤 信彦
NEC シリコンシステム研究所
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野中 聡
旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座
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野中 源一郎
九州大学薬学部
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田村 貴央
NECELプロセス技術事業部
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河合 真一
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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冨留宮 正之
NEC ULSIデバイス開発研究所
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川上 幸也
NECシリコンシステム研究所
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河合 真一
NECシリコンシステム研究所
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佐藤 高
マイクロエレクトロニクス研究所
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佐藤 高
NEC
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冨留 宮正之
NEC
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田村 貴央
NEC Corporation
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川上 幸也
Nec シリコンシステム研究所
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冨留宮 正之
Nec
著作論文
- 4)IT-CCDイメージセンサにおける光学的なセル縮小限界(情報入力研究会コンシューマエレクトロニクス研究会合同)
- 1)新フォトダイオード構造を用いた低スミア・高感度200万画素IT-CCD(〔情報入力研究会 コンシューマエレクトロニクス研究会〕 合同)