小沼 和夫 | NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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概要
関連著者
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小沼 和夫
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
-
遠山 茂
Necマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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増渕 浩一
日本電気株式会社r&dサポートセンター
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寺西 信一
松下電子工業
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寺西 信一
NECシリコンシステム研究所
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寺西 信一
松下電子工業株式会社ccd事業部
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内海 浩昭
NECシリコンシステム研究所
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寺西 信一
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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東 博美
Necマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部:(現)nec企画室
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東 博美
Necマイクロエレクトロニクス研究所
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寺西 信一
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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増渕 浩一
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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東 博美
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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山片 茂樹
NEC
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田辺 顕人
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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寺西 信一
日本電気株式会社 シリコンシステム研究所
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遠藤 勉
Necシリコンシステム研究所
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寺西 信一
日電
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寺西 信一
日本電気株式会社
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小沼 和夫
日電
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小沼 和夫
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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浅野 義堂
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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村松 俊夫
NEC
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浅野 義堂
Necマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部:(現)日本アビオニクス
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増渕 浩一
日本電気株式会社R&Dサポートセンター
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斎藤 徹
日本アビオニクス
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田中 敬訓
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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織田 英嗣
日本電気株式会社
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織田 英嗣
日本電機(株)
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後藤 英樹
Nec
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寺西 信一
Nec
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遠山 茂
日電
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増渕 浩一
日電
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遠山 茂
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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土川 稔
NEC
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内海 浩昭
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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遠藤 勉
NECマイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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吉岡 伸哉
日本電気株式会社
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高野 英二
NEC
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佐原 宏和
NEC
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関 孝彦
NEC
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小野 武
NEC
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森山 好文
日本電気株式会社
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高田 教正
日本電気株式会社
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高田 教正
日本電気
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内海 浩昭
Nec シリコンシステム研究所
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小沼 和夫
Nec シリコンシステム研
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田辺 顕人
NECシリコンシステム研究所
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織田 英嗣
NEC
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内海 浩昭
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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田中 敬訓
日電
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田辺 顕人
日電
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田辺 顕人
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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村松 俊夫
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所センサ研究部
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土川 稔
日本電気(株)
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織田 英嗣
日電
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増渕 浩一
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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山片 茂樹
日電
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森山 好文
日電
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高田 教正
日電
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吉岡 伸哉
日電
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山片 茂樹
日本電気株式会社
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山片 茂樹
日本電気(株)誘導光電事業部
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遠山 茂
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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小沼 和夫
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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東 博美
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田辺 顕人
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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内海 浩昭
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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高野 英二
日本電気(株)誘導光電事業部
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佐原 宏和
日本電気(株)誘導光電事業部
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村松 俊夫
日本電気(株)誘導光電事業部
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関 孝彦
日本電気航空宇宙システム(株)
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小野 武
日本電気航空宇宙システム(株)
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後藤 英樹
日本電気真空ガラス(株)
著作論文
- 3)648×487画素ショットキー型赤外CCDイメージセンサ(〔情報入力研究会 コンシューマエレクトロニクス研究会〕合同)
- 648x487画素ショットキ型赤外CCDイメージセンサ
- 2波長赤外線イメージセンサによる遠隔真温度測定(固体撮像とその関連技術)
- 4)真温度分布撮像のための2波長赤外イメージセンサの開発(情報入力研究会)
- 真温度分布撮像のための2波長赤外イメージセンサの開発
- 3)新配線小型ショットキバリアIR-CCDイメージセンサ(情報入力研究会)
- 新配線小型ショットキバリアIR-CCDイメージセンサ : 情報入力
- 4)標準テレビジョン方式ショットキバリア型赤外線イメージセンサ(テレビジョン電子装置研究会)
- 標準テレビジョン方式ショットキバリア型赤外線イメージセンサ : 電子装置
- 3)ショットキーバリア型赤外線CCDイメージセンサ(情報入力研究会)
- ショットキバリア型赤外線CCDイメージセンサ
- International Electron Devices Meeting'94参加報告