23-3 裏打ち配線を有するFIT-CCDにおける垂直駆動パルスなまりと転送電荷量の関係
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概要
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Pulse decay dependence of Qmax was simulated in FIT-CCD image sensor with shunt wiring. To suppress Qmax reduction caused by pulse decay, time constant defined by gate electrode capacitance and aluminum busline resistance should be less than 1/10 driving pulse period.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1992-07-28
著者
-
中野 隆
Nec シリコンシステム研究所
-
千葉 一浩
NECシリコンシステム研究所
-
武藤 信彦
松下電子工業株式会社ccd事業部
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武藤 信彦
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
-
武藤 信彦
日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所
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中野 隆
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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大保 雅浩
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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千葉 一浩
日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所
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大保 雅浩
NEC
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