武藤 信彦 | 日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

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概要

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関連著者

• 武藤 信彦

  松下電子工業株式会社ccd事業部

• 武藤 信彦

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 武藤 信彦

  日本電気株式会社マイクロエレクトロニクス研究所

• 寺西 信一

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 寺西 信一

  松下電子工業株式会社ccd事業部

• 寺西 信一

  松下電子工業

• 中野 隆

  Nec シリコンシステム研究所

• 中野 隆

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 武藤 信彦

  松下電子工業

• 千葉 一浩

  NECシリコンシステム研究所

• 寺西 信一

  NECシリコンシステム研究所

• 武藤 信彦

  パナソニック株式会社 セミコンダクター社

• 森本 倫弘

  NECシステムマイクロ事業部

• 森本 倫弘

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

• 川上 幸也

  Nec シリコンシステム研究所

• 川上 幸也

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 大保 雅浩

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 千葉 一浩

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 大保 雅浩

  NEC

• 小川 智弘

  Nec Ulsiデバイス開発研究所

• 村上 一郎

  Nec Ulsiデバイス開発研究所

• 畑野 啓介

  日本電気株式会社NECエレクトロンデバイスシステムLSI事業本部システムLSI設計技術本部

• 山田 徹

  日本電気(株)マルチメディア研究所

• 織原 弘三

  日本電気株式会社シリコンシステム研究所

• 村上 一朗

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 佐藤 高

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 小川 智弘

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

• 畑野 啓介

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

• 織原 弘三

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

• 佐藤 高

  マイクロエレクトロニクス研究所

• 織田 英嗣

  NEC

• 織田 英嗣

  日本電気株式会社

• 西村 美代

  日本電気株式会社

• 織原 弘三

  日本電気(株)

• 織田 英嗣

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス(研)

• 山田 徹

  Nec シリコンシステム研究所

• 西村 美代

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所

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著作論文

• 2-10 分光特性に基づくCCDイメージセンサにおけるスミアの解析
• 低雑音CCD電荷検出器 : 情報入力コンシューマエレクトロニクス
• 5-11 CCDイメージセンサにおける水平駆動電圧低減の検討
• 23-3 裏打ち配線を有するFIT-CCDにおける垂直駆動パルスなまりと転送電荷量の関係
• 23-2 FIT-CCDにおける垂直CCD転送方式の改善
• 23-4 表面チャネルCCDにおける転送時間
• 3-3 CCD出力部のリセットノイズ

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