MNOS構造のトータルドーズ効果における絶縁膜厚依存性
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-09-07
著者
-
吉川 正人
日本原子力研究所・高崎研究所
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吉川 正人
原研高崎
-
大西 一功
日本大学理工学部電子情報工学科
-
藤巻 剛
日本大学理工学部
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高橋 芳浩
日本大学理工学部
-
大西 一功
日大理工学部
-
高橋 芳浩
日大理工学部
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藤巻 剛
日大理工学部
-
高橋 芳宏
日本大学電子工学科
-
高橋 芳浩
日本原子力研究開発機構:日本大学
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