SC-9-1 InP HBT 特性の温度依存性モデリング
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-09-10
著者
-
川崎 健
ユーディナデバイス株式会社先端デバイスグループ
-
矢野 浩
住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所
-
山日 竜二
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
小谷 謙司
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
川崎 健
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
八重樫 誠司
住友電気工業株式会社伝送デバイス研究所
-
矢野 浩
ユーディナデバイス株式会社
-
小谷 謙司
ユーディナデバイス株式会社
-
八重樫 誠司
ユーディナデバイス株式会社
-
古館 清吾
住友電気工業(株)伝送デバイス研究所
-
山日 竜二
住友電気工業株式会社 オプトエレクトロニクス研究所
-
八重樫 誠司
住友電気工業株式会社
-
小谷 謙司
住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所
-
川崎 健
住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所
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